產品介紹

GCSTD-D智能高低頻介電常數試驗分析儀

滿足標準：

GBT 1409-2006測量(liang)電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容

率和介質損耗(hao)因(yin)數的(de)推(tui)薦方法

GB／T1693-2007硫化橡膠介電常(chang)數和介質損耗角正切值的測(ce)定方法

ASTM D150／IEC 60250固體電(dian)絕緣(yuan)材料的（恒(heng)久電(dian)介質）的交流(liu)損耗(hao)特(te)性和(he)介電(dian)常數

的測試方法

智能高低頻介電常數試驗分析儀試驗方法：

接觸法(fa)：適用于(yu)厚度均勻、上下表面平整、光滑材料

非接觸法(fa)：適(shi)用于(yu)上下表面(mian)不(bu)平整(zheng)、不(bu)光滑材料

電(dian)(dian)極(ji)類型(xing)：固定電(dian)(dian)極(ji)-測量電(dian)(dian)極(ji)φ38mm／φ50mm（標配電(dian)(dian)極(ji)1套，標配為38mm）

液體電極-液體容量15ml

粉(fen)體電極(ji)-根據樣(yang)品量可配專用電極(ji)

試(shi)樣類型：固體、液體、粉體、膏體／規則物(wu)或者(zhe)不(bu)規則物(wu)

性能特點：

測試頻(pin)率20H2～2MHz，10mHz步(bu)進

測試電平10mV～5V，1mV步進(jin)

基本準確度0.1％

最(zui)高達200次／s的測量速(su)度

320x240點陣大型圖(tu)形LCD顯示

五位讀數分辨率

可測(ce)量22種阻(zu)抗參(can)數組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置(zhi)偏流源至40A（配置(zhi)兩臺(tai)TH1776）（選件）

電(dian)壓或(huo)電(dian)流的自動電(dian)平調整（ALC）功能

V、1測試(shi)信號(hao)電(dian)平監視功能

圖形掃描分析功能

20組(zu)內部(bu)儀器設定可供儲(chu)存／讀(du)取(qu)

內建比較(jiao)器，10檔分選及計數功(gong)能

多(duo)種通訊接(jie)口(kou)方便(bian)用(yong)(yong)戶聯機使用(yong)(yong)

2m／4m測試電纜(lan)擴展（選(xuan)件）

中英文可選操作界面

可通過(guo)USB HOST 自動升級儀器工作程序

測試材料：

無(wu)源元(yuan)件(jian)(jian)：電(dian)(dian)容器(qi)、電(dian)(dian)感(gan)器(qi)、磁芯、電(dian)(dian)阻器(qi)、壓電(dian)(dian)器(qi)件(jian)(jian)、變壓器(qi)、芯片組件(jian)(jian)和網絡元(yuan)件(jian)(jian)

等的陽抗參數評估(gu)和性(xing)能分析。

半導體元件：變容二極管的(de)C-VDC特性；晶體管或集成電路的(de)寄生參(can)數分析

其它(ta)元件：印制電路板(ban)、繼(ji)電器、開(kai)關(guan)、電纜(lan)、電池等的阻抗評(ping)估

介(jie)質材料：塑料、陶瓷和其它材料的介(jie)電(dian)常數和損耗角(jiao)評估(gu)

磁(ci)性(xing)材料：鐵(tie)氧(yang)體、非(fei)晶(jing)體和其它(ta)磁(ci)性(xing)材料的導磁(ci)率和損耗角評估

半導體(ti)材(cai)料：半導體(ti)材(cai)料的介電常(chang)數、導電率和(he)C-V特性(xing)

液(ye)晶材料：液(ye)晶單元的介電常(chang)數、彈性(xing)常(chang)數等C-V特性(xing)