產品介紹

GCSTD-D智能高低頻介電常數試驗儀

滿足標準：

GBT 1409-2006測(ce)量電氣絕緣材料在工頻(pin)、音頻(pin)、高頻(pin)（包括米波(bo)波(bo)長(chang)在內）下電容

率(lv)和介質損耗因數的推薦方法

GB／T1693-2007硫化橡(xiang)膠介(jie)電常數和介(jie)質損耗角(jiao)正(zheng)切值的測定方法

ASTM D150／IEC 60250固(gu)體電(dian)絕緣(yuan)材料的（恒久電(dian)介質）的交(jiao)流損耗特性和(he)介電(dian)常數

的測試方法

智能高低頻介電常數試驗儀試驗方法：

接觸(chu)法：適(shi)用于厚度均勻、上下表面平(ping)整、光滑材(cai)料

非接觸法：適用于(yu)上(shang)下表面(mian)不(bu)平整、不(bu)光滑材料(liao)

電極(ji)類型：固定電極(ji)-測量電極(ji)φ38mm／φ50mm（標配電極(ji)1套，標配為38mm）

液體電極-液體容量15ml

粉體電極(ji)-根據(ju)樣品量可配(pei)專用電極(ji)

試樣類(lei)型：固體、液(ye)體、粉體、膏體／規則物或者不規則物

性能特點：

測試頻率20H2～2MHz，10mHz步進

測試電平10mV～5V，1mV步進

基本準確度0.1％

最高達200次／s的(de)測量速度(du)

320x240點(dian)陣大型圖(tu)形LCD顯示

五位讀數分辨率

可測量22種(zhong)阻抗參(can)數組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外(wai)置偏流源至40A（配置兩臺TH1776）（選件）

電(dian)(dian)壓(ya)或電(dian)(dian)流的自動電(dian)(dian)平調整（ALC）功(gong)能

V、1測(ce)試信號電平監視功(gong)能(neng)

圖形掃描分析功能

20組內部(bu)儀器設定可供儲存／讀(du)取

內建比較器，10檔分(fen)選(xuan)及計(ji)數功能

多種通訊接口方便用戶聯(lian)機使用

2m／4m測試(shi)電纜(lan)擴展（選件(jian)）

中英文可選操作界面

可通過(guo)USB HOST 自動升級(ji)儀器工作程序(xu)

測試材料：

無源元件(jian)：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓(ya)電器件(jian)、變壓(ya)器、芯片組件(jian)和網(wang)絡元件(jian)

等的陽抗參(can)數評估和性(xing)能分(fen)析。

半導體元件：變容二極(ji)管的(de)C-VDC特性(xing)；晶(jing)體管或集成電(dian)路的(de)寄生參數分析

其它(ta)元件：印制電路(lu)板、繼電器、開關、電纜(lan)、電池(chi)等的阻抗評估

介質材(cai)料：塑料、陶瓷和(he)其(qi)它材(cai)料的介電常數和(he)損(sun)耗角評(ping)估

磁性(xing)材料(liao)：鐵氧體、非晶體和(he)(he)其(qi)它磁性(xing)材料(liao)的導磁率和(he)(he)損耗角評估

半(ban)導(dao)體材料(liao)(liao)：半(ban)導(dao)體材料(liao)(liao)的介(jie)電常數(shu)、導(dao)電率和(he)C-V特(te)性

液(ye)晶(jing)材(cai)料：液(ye)晶(jing)單元的介電常數(shu)、彈性常數(shu)等C-V特性