產品介紹

GCSTD-D智能高低頻介電常數測試儀

滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在(zai)工頻、音(yin)頻、高頻（包括米波波長在(zai)內）下電容

率和介(jie)質損耗(hao)因數的推薦方法

GB／T1693-2007硫化橡(xiang)膠介電常數和(he)介質(zhi)損耗(hao)角(jiao)正切(qie)值的測定方法

ASTM D150／IEC 60250固體電(dian)絕緣材料的（恒久電(dian)介(jie)質）的交流(liu)損耗特性和介(jie)電(dian)常數

的測試方法

智能高低頻介電常數測試儀試驗方法：

接觸(chu)法：適(shi)用于厚度均勻(yun)、上下(xia)表(biao)面平整(zheng)、光滑材料

非(fei)接觸法：適用于上下(xia)表面(mian)不平整(zheng)、不光滑材料

電極類型：固定電極-測量電極φ38mm／φ50mm（標(biao)(biao)配(pei)電極1套，標(biao)(biao)配(pei)為38mm）

液體(ti)電極-液體(ti)容量15ml

粉體電極(ji)-根(gen)據(ju)樣品量可配專用電極(ji)

試(shi)樣類型：固體、液體、粉體、膏體／規則(ze)(ze)物或者不規則(ze)(ze)物

性能特點：

測試頻率(lv)20H2～2MHz，10mHz步(bu)進

測試電(dian)平10mV～5V，1mV步進

基本準確度0.1％

最高達200次／s的(de)測量速度

320x240點陣大型(xing)圖形LCD顯示

五位讀數分辨率

可(ke)測量22種阻(zu)抗參數組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外(wai)置偏流源至40A（配置兩臺TH1776）（選件）

電(dian)壓或(huo)電(dian)流的自(zi)動(dong)電(dian)平調整(zheng)（ALC）功能

V、1測(ce)試信號電平監視(shi)功(gong)能(neng)

圖形掃描分析功能

20組內(nei)部儀器設定(ding)可供儲存(cun)／讀取

內(nei)建(jian)比(bi)較器，10檔(dang)分選及計(ji)數(shu)功能

多種通訊接口方便用(yong)戶聯機(ji)使用(yong)

2m／4m測(ce)試電(dian)纜(lan)擴(kuo)展（選件(jian)）

中英文可選操作界面

可通(tong)過USB HOST 自動升級儀器工(gong)作程序

測試材料：

無源元件(jian)：電(dian)容器(qi)(qi)、電(dian)感(gan)器(qi)(qi)、磁芯、電(dian)阻(zu)器(qi)(qi)、壓電(dian)器(qi)(qi)件(jian)、變壓器(qi)(qi)、芯片組件(jian)和網絡元件(jian)

等的(de)陽抗參數(shu)評估和性(xing)能(neng)分析。

半導體元件：變容二(er)極管的(de)C-VDC特(te)性；晶體管或(huo)集成電路的(de)寄生參數分析(xi)

其它(ta)元件：印(yin)制電(dian)路板、繼(ji)電(dian)器、開關(guan)、電(dian)纜、電(dian)池等(deng)的阻抗評(ping)估

介(jie)質材(cai)(cai)料(liao)：塑料(liao)、陶瓷和(he)其它(ta)材(cai)(cai)料(liao)的介(jie)電常數(shu)和(he)損(sun)耗角評估

磁性材(cai)料(liao)：鐵(tie)氧體、非晶(jing)體和其(qi)它磁性材(cai)料(liao)的導磁率和損耗角評估(gu)

半(ban)導(dao)體(ti)材料(liao)(liao)：半(ban)導(dao)體(ti)材料(liao)(liao)的介電常數、導(dao)電率和C-V特性

液晶(jing)材料：液晶(jing)單元的介電常(chang)數、彈性常(chang)數等C-V特性