產品介紹

GCSTD-D智能高低頻介電常數測試儀GCSTD

滿足標準：

GBT 1409-2006測(ce)量電(dian)氣(qi)絕(jue)緣材(cai)料在(zai)工頻(pin)、音(yin)頻(pin)、高頻(pin)（包括米波波長(chang)在(zai)內）下(xia)電(dian)容

率和介質(zhi)損耗(hao)因數的推薦方法

GB／T1693-2007硫(liu)化橡膠介(jie)電常(chang)數和介(jie)質損耗角正切(qie)值的測定(ding)方法

ASTM D150／IEC 60250固(gu)體電絕緣材料的(de)（恒久電介(jie)質）的(de)交流損耗特(te)性(xing)和介(jie)電常數

的測試方法

智能高低頻介電常數測試儀GCSTD試驗方法：

接觸法：適(shi)用于厚度均勻、上(shang)下表面平整、光滑材料

非(fei)接觸法：適用于上下表(biao)面不平整、不光滑材料(liao)

電(dian)(dian)極(ji)類(lei)型：固定電(dian)(dian)極(ji)-測量電(dian)(dian)極(ji)φ38mm／φ50mm（標(biao)配電(dian)(dian)極(ji)1套，標(biao)配為(wei)38mm）

液(ye)體電極-液(ye)體容(rong)量(liang)15ml

粉體電極(ji)-根據(ju)樣品量可配專用電極(ji)

試樣類型：固(gu)體、液體、粉(fen)體、膏(gao)體／規則物或者不規則物

性能特點：

測試頻率20H2～2MHz，10mHz步進

測試電平10mV～5V，1mV步進

基本準確度0.1％

最高達200次／s的測量速度

320x240點陣大(da)型圖形(xing)LCD顯示

五位讀數分辨率

可測量(liang)22種阻抗(kang)參數組合(he)

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置偏流源至40A（配置兩臺TH1776）（選件）

電(dian)壓或電(dian)流的自動電(dian)平調(diao)整(zheng)（ALC）功能

V、1測(ce)試信號電平監(jian)視功能(neng)

圖形掃描分析功能

20組內部儀(yi)器(qi)設定可供(gong)儲存(cun)／讀取

內建比較器(qi)，10檔(dang)分選及計數功能

多種(zhong)通訊接口方便用(yong)(yong)戶聯機使用(yong)(yong)

2m／4m測試電纜擴(kuo)展（選件）

中英文可選操作界面

可通過USB HOST 自動升級儀器工作程序(xu)

測試材料：

無源元(yuan)件：電(dian)(dian)容器(qi)、電(dian)(dian)感(gan)器(qi)、磁(ci)芯、電(dian)(dian)阻(zu)器(qi)、壓電(dian)(dian)器(qi)件、變壓器(qi)、芯片組件和網(wang)絡元(yuan)件

等(deng)的陽抗參數評(ping)估和性(xing)能分(fen)析。

半導體元件(jian)：變(bian)容二極(ji)管(guan)的C-VDC特性；晶(jing)體管(guan)或集成電路(lu)的寄生(sheng)參數分析

其它(ta)元(yuan)件：印(yin)制電(dian)路(lu)板、繼(ji)電(dian)器、開關、電(dian)纜(lan)、電(dian)池(chi)等的(de)阻抗評估

介(jie)質材料：塑料、陶(tao)瓷和(he)其它材料的介(jie)電常數和(he)損耗角(jiao)評估

磁(ci)性材料：鐵(tie)氧體(ti)、非晶體(ti)和其它磁(ci)性材料的導磁(ci)率(lv)和損耗角評估

半導體材(cai)料(liao)：半導體材(cai)料(liao)的介電常數(shu)、導電率(lv)和C-V特性

液(ye)晶(jing)(jing)材(cai)料：液(ye)晶(jing)(jing)單(dan)元的介電常(chang)數(shu)、彈性(xing)常(chang)數(shu)等C-V特性(xing)