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產品詳細頁高低頻介電常數測試儀GCSTD
- 產品(pin)型號:GCSTD-D
- 更新時間:2024-07-19
- 產品介紹:高低頻介電常數測試儀GCSTD是一種*的測量介質損耗和電容容量的儀器,測量各種絕緣材料、絕緣套管、絕緣液體、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗和電容容量。
- 在線留言 010-57223836/57223838
產品介紹
GCSTD-D高低頻介電常數測試儀GCSTD
滿足標準:
GBT 1409-2006測(ce)量電氣絕(jue)緣材料在(zai)工(gong)頻、音(yin)頻、高(gao)頻(包括米波波長在(zai)內)下電容
率和介質損耗因(yin)數(shu)的推(tui)薦方法
GB/T1693-2007硫化橡(xiang)膠介(jie)電常數和介(jie)質(zhi)損耗(hao)角正切值的測(ce)定方法
ASTM D150/IEC 60250固體電(dian)絕緣材料(liao)的(恒久電(dian)介(jie)質)的交流損耗特(te)性和介(jie)電(dian)常數
的測試方法
高低頻介電常數測試儀GCSTD試驗方法:
接觸(chu)法:適用于(yu)厚(hou)度均勻、上下表面平整、光滑材料(liao)
非接(jie)觸法:適用于上下表(biao)面(mian)不(bu)平(ping)整、不(bu)光滑材料
電極(ji)類型:固定電極(ji)-測量電極(ji)φ38mm/φ50mm(標配電極(ji)1套,標配為(wei)38mm)
液體(ti)電極-液體(ti)容量15ml
粉體電(dian)(dian)極-根據(ju)樣(yang)品(pin)量(liang)可配專用電(dian)(dian)極
試樣類型:固體(ti)、液體(ti)、粉體(ti)、膏體(ti)/規(gui)則物或者不規(gui)則物
性能特點:
測試(shi)頻率20H2~2MHz,10mHz步進(jin)
測試電平10mV~5V,1mV步進
基本準確度0.1%
最高達200次(ci)/s的測量(liang)速度
320x240點陣大(da)型圖(tu)形(xing)LCD顯示
五位讀數分辨率
可測(ce)量(liang)22種(zhong)阻抗參數組合(he)
四種信號源輸出阻抗
10點列表掃描測試功能
內部自帶直流偏置源
外置偏流源至40A(配置兩臺TH1776)(選(xuan)件)
電(dian)壓或(huo)電(dian)流的自(zi)動(dong)電(dian)平調整(ALC)功能
V、1測試信號電平監(jian)視功能(neng)
圖形掃描分析功能
20組(zu)內(nei)部儀器設定(ding)可供儲(chu)存/讀取(qu)
內建比較器,10檔分選及(ji)計數(shu)功(gong)能
多(duo)種通訊(xun)接口方(fang)便用戶聯(lian)機使(shi)用
2m/4m測試(shi)電(dian)纜擴展(選(xuan)件)
中英文可選操作界面
可通過USB HOST 自(zi)動升級儀(yi)器(qi)工作程序
測試材料:
無(wu)源元件:電(dian)容器(qi)(qi)、電(dian)感器(qi)(qi)、磁芯(xin)、電(dian)阻器(qi)(qi)、壓電(dian)器(qi)(qi)件、變壓器(qi)(qi)、芯(xin)片(pian)組件和網(wang)絡元件
等的陽(yang)抗參數評估(gu)和性(xing)能分析(xi)。
半(ban)導體元件:變容二極管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄(ji)生(sheng)參數分析(xi)
其它元(yuan)件:印制(zhi)電(dian)路板、繼電(dian)器、開關、電(dian)纜(lan)、電(dian)池等的阻抗評估
介質材料(liao):塑料(liao)、陶瓷和其它材料(liao)的介電常數和損耗角評(ping)估(gu)
磁性(xing)材料:鐵氧體、非晶體和其它磁性(xing)材料的(de)導磁率和損耗(hao)角評估
半(ban)(ban)導體(ti)(ti)材料:半(ban)(ban)導體(ti)(ti)材料的介電(dian)常數、導電(dian)率和C-V特性
液(ye)晶(jing)材(cai)料:液(ye)晶(jing)單元(yuan)的介電常數(shu)、彈性(xing)常數(shu)等C-V特(te)性(xing)
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