產品介紹

高低頻電容率介質損耗測試儀

GCSTD-DII

一、滿足標準：

GBT 1409-2006測(ce)量電(dian)氣絕緣材料(liao)在工頻、音頻、高頻（包括(kuo)米(mi)波波長(chang)在內(nei)）下電(dian)容(rong)率和(he)介(jie)質損耗因數的推薦方法

GB/T1693-2007 硫化(hua)橡膠 介電常(chang)數和介質(zhi)損耗角正(zheng)切值的測定(ding)方法

ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣(yuan)材料的(恒久電介質(zhi))的交流損(sun)耗特(te)性和介電常數的測試方法

二、高低頻電容率介質損耗測試儀技術要求：

接觸法：適用于厚度均勻、上(shang)下表面(mian)平整、光滑材料

電(dian)極類型：固定(ding)電(dian)極-測量電(dian)極φ38mm

測試頻率(lv)：20HZ-5MHZ

測試電極：黃銅電極

測試環境：室溫

三、軟件功能：

* 1、測試(shi)頻率可以(yi)掃描進行測試(shi)

*2、測試(shi)頻率可(ke)以(yi)單點測試(shi)

*3、測試(shi)頻(pin)率可以多(duo)頻(pin)設置測試(shi)

4、測試(shi)速(su)度模式：快速(su)、中(zhong)速(su)、慢速(su)

5、測試數據(ju)與曲線顯示：

*6、電(dian)阻率—測試(shi)頻(pin)率

*7、絕對介電常數(shu)--測(ce)試頻率

*8、相對介電常數(shu)--測試頻(pin)率

*9、相對介電常數虛部(bu)--測試頻率

*10、相(xiang)對介電常數實(shi)部--測試(shi)頻率(lv)

*11、介(jie)質損耗--測試(shi)頻率(lv)

*12、電容值--測試頻率

四 、測試電橋參數

測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測試頻率 20 Hz～5MHz,10mHz步進

測試信號電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準確度 0.1%

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C 0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D 0.0001 ～ 9.9999

Q 0.0001 ～ 99999

θ -179.99°～ 179.99°

測量速度 快(kuai)速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）

中速(su): 25次(ci)/s, 慢速(su): 5次(ci)/s

校準功能 開(kai)路 / 短路點(dian)頻、掃頻清零(ling)，負載校(xiao)準(zhun)

等效方式 串聯方式, 并聯方式

量程方式 自動, 保持

顯示方式 直讀, Δ, Δ%

觸發方式 內部(bu), 手動, 外部(bu), 總線

內部直流偏 電壓模式 -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步(bu)進

置源 電流模式（內阻為50Ω） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進

比較器功能 10檔分選及(ji)計(ji)數功能(neng)

顯示器 320×240點陣圖形LCD顯(xian)示

存儲器 可保存20組儀器設定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)

USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB（選件）