產品介紹

高低頻電絕緣材料的損耗特性介電常數測試儀

GCSTD-DII

一、滿足標準：

GBT 1409-2006測量電(dian)氣(qi)絕緣材料(liao)在工(gong)頻(pin)(pin)、音(yin)頻(pin)(pin)、高頻(pin)(pin)（包括米波(bo)波(bo)長在內(nei)）下電(dian)容率和介質損耗因數(shu)的推薦方(fang)法

GB/T1693-2007 硫化橡膠 介(jie)電常數和介(jie)質損耗角正(zheng)切值的測(ce)定方法

ASTM D150/IEC 60250固體電絕(jue)緣材料的(de)(恒(heng)久電介質)的(de)交流損(sun)耗特性和介電常數(shu)的(de)測試方(fang)法

二、高低頻電絕緣材料的損耗特性介電常數測試儀技術要求：

接(jie)觸法：適用于厚度均(jun)勻、上(shang)下表面平(ping)整、光滑材料

電極類型：固(gu)定電極-測量電極φ38mm

測試頻率：20HZ-5MHZ

測試電極：黃銅電極

測試環境：室溫

三、軟件功能：

* 1、測(ce)(ce)試頻率可以掃描進行測(ce)(ce)試

*2、測試頻(pin)率可以單點測試

*3、測(ce)試(shi)頻率(lv)可以多頻設置(zhi)測(ce)試(shi)

4、測試速度模(mo)式：快速、中速、慢速

5、測試數據與曲(qu)線顯示：

*6、電阻率(lv)—測試頻率(lv)

*7、絕對介電常數--測試頻率

*8、相對介電常數--測試(shi)頻率

*9、相(xiang)對(dui)介(jie)電常(chang)數虛部--測試頻(pin)率

*10、相對介電常(chang)數實部--測(ce)試頻率(lv)

*11、介質(zhi)損耗--測(ce)試(shi)頻率(lv)

*12、電容值--測試頻(pin)率

四 、測試電橋參數

測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測試頻率 20 Hz～5MHz,10mHz步進

測試信號電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準確度 0.1%

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C 0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D 0.0001 ～ 9.9999

Q 0.0001 ～ 99999

θ -179.99°～ 179.99°

測量速度 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）

中速: 25次(ci)(ci)/s, 慢速: 5次(ci)(ci)/s

校準功能 開路(lu) / 短路(lu)點頻(pin)、掃頻(pin)清零(ling)，負載(zai)校準

等效方式 串(chuan)聯方式, 并聯方式

量程方式 自動, 保持

顯示方式 直讀, Δ, Δ%

觸發方式 內(nei)部, 手(shou)動(dong), 外部, 總線

內部直流偏 電壓模式 -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進

置源 電流模式（內阻為50Ω） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進

比較器功能 10檔分選及(ji)計數功能(neng)

顯示器 320×240點陣圖形LCD顯示(shi)

存儲器 可(ke)保存20組儀器設定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)

USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB（選件）