產品介紹

高頻介電常數和介質損耗測試儀

GCSTD-DII

一、滿足標準：

GBT 1409-2006測(ce)量電氣絕緣材料在工頻(pin)、音頻(pin)、高頻(pin)（包(bao)括米波波長在內）下電容(rong)率和介(jie)質損耗因數的推薦(jian)方法

GB/T1693-2007 硫化(hua)橡膠 介電常數和介質(zhi)損耗角正切(qie)值(zhi)的測定方法(fa)

ASTM D150/IEC 60250固體電(dian)(dian)絕緣材料的(恒久電(dian)(dian)介(jie)質)的交(jiao)流(liu)損耗特性和介(jie)電(dian)(dian)常數的測試(shi)方法

二、高頻介電常數和介質損耗測試儀技術要求：

接觸法：適用于(yu)厚度均勻、上(shang)下表(biao)面(mian)平整、光(guang)滑材料

電(dian)(dian)極類型：固定電(dian)(dian)極-測(ce)量電(dian)(dian)極φ38mm

測試(shi)頻率：20HZ-5MHZ

測試電極：黃銅電極

測試環境：室溫

三、軟件功能：

* 1、測(ce)試頻率可以掃描進(jin)行測(ce)試

*2、測試頻率可以單點測試

*3、測(ce)試頻率可以多頻設置測(ce)試

4、測試速(su)度模式(shi)：快速(su)、中(zhong)速(su)、慢速(su)

5、測試數(shu)據與曲線顯示：

*6、電阻率—測試頻率

*7、絕(jue)對介電(dian)常數--測試頻率

*8、相對介電常數(shu)--測試頻率

*9、相對介電常數虛部(bu)--測試頻率

*10、相對介電常數實部(bu)--測試頻率

*11、介質(zhi)損耗--測試頻率

*12、電容值--測(ce)試頻率

四 、測試電橋參數

測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測試頻率 20 Hz～5MHz,10mHz步進

測試信號電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準確度 0.1%

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C 0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D 0.0001 ～ 9.9999

Q 0.0001 ～ 99999

θ -179.99°～ 179.99°

測量速度 快速(su): 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）

中(zhong)速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校準功能 開路 / 短路點(dian)頻(pin)、掃(sao)頻(pin)清零，負載校(xiao)準

等效方式 串聯方式(shi), 并(bing)聯方式(shi)

量程方式 自動, 保持

顯示方式 直讀, Δ, Δ%

觸發方式 內部(bu), 手動(dong), 外部(bu), 總線(xian)

內部直流偏 電壓模式 -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進

置源 電流模式（內阻為50Ω） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步(bu)進

比較器功能 10檔分選及計數功能

顯示器 320×240點陣圖形(xing)LCD顯示

存儲器 可(ke)保存20組儀器設定(ding)值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)

USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB（選件）