產品介紹

粉體高低頻介電常數測量儀

GCSTD-DII

一、滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣(yuan)材(cai)料(liao)在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(chang)在內(nei)）下電容率和介質損耗因數的推薦(jian)方法

GB/T1693-2007 硫(liu)化橡(xiang)膠 介電常數和介質損耗角正切值的測定方(fang)法

ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久(jiu)電介質)的交流損耗特性和介電常(chang)數的測試方法(fa)

二、粉體高低頻介電常數測量儀技術要求：

接觸法：適用于厚(hou)度均勻、上下表面平整、光滑材料

電極類型：固定電極-測量電極φ38mm

測試頻率：20HZ-5MHZ

測試電極：黃銅電極

測試環境：室溫

三、軟件功能：

* 1、測(ce)試(shi)(shi)頻(pin)率可以掃描進行測(ce)試(shi)(shi)

*2、測試(shi)頻(pin)率可以單點測試(shi)

*3、測試(shi)頻率可(ke)以多(duo)頻設置測試(shi)

4、測試速(su)度模式：快速(su)、中(zhong)速(su)、慢速(su)

5、測試數據(ju)與曲線顯(xian)示：

*6、電阻(zu)率(lv)—測(ce)試頻率(lv)

*7、絕對(dui)介(jie)電常數(shu)--測試頻率

*8、相對介電(dian)常(chang)數--測試頻率

*9、相對介(jie)電常數虛(xu)部--測試頻(pin)率(lv)

*10、相對介電常數(shu)實部(bu)--測試(shi)頻(pin)率

*11、介質損耗(hao)--測試頻率

*12、電容值(zhi)--測(ce)試頻率

四 、測試電橋參數

測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測試頻率 20 Hz～5MHz,10mHz步進

測試信號電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準確度 0.1%

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C 0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D 0.0001 ～ 9.9999

Q 0.0001 ～ 99999

θ -179.99°～ 179.99°

測量速度 快(kuai)速: 200次(ci)/s（f﹥30kHz） ,100次(ci)/s（f﹥1kHz）

中(zhong)速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校準功能 開路(lu) / 短路(lu)點頻(pin)、掃頻(pin)清(qing)零，負載校準

等效方式 串聯方式(shi), 并(bing)聯方式(shi)

量程方式 自動, 保持

顯示方式 直讀, Δ, Δ%

觸發方式 內部, 手動, 外(wai)部, 總線

內部直流偏 電壓模式 -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進

置源 電流模式（內阻為50Ω） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進

比較器功能 10檔分選及計(ji)數功能

顯示器 320×240點(dian)陣圖形LCD顯示

存儲器 可保存20組儀器設定值(zhi)

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)

USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB（選件）