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產品詳細頁(ye)高低頻電氣絕緣材料介質損耗測試儀
- 產(chan)品型號(hao):GCSTD-DII
- 更(geng)新時(shi)間(jian):2024-07-18
- 產品介紹(shao):高低頻電氣絕緣材料介質損耗測試儀GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數和介質損耗角正切值的測定方法 ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質)的交流損耗特性和介電常數的測試方法
- 在線留言 010-57223836/57223838
產品介紹
高低頻電氣絕緣材料介質損耗測試儀
GCSTD-DII
一、滿足標準:
GBT 1409-2006測量電氣(qi)絕(jue)緣材料在工頻(pin)、音頻(pin)、高頻(pin)(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗(hao)因數(shu)的推薦方法(fa)
GB/T1693-2007 硫化(hua)橡膠(jiao) 介電常數和介質損耗(hao)角(jiao)正切值的測定(ding)方法
ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣(yuan)材(cai)料(liao)的(恒久(jiu)電介(jie)質)的交流損耗特性和介(jie)電常數(shu)的測試方法
二、高低頻電氣絕緣材料介質損耗測試儀技術要求:
接(jie)觸法(fa):適用(yong)于厚度均勻(yun)、上下表面平整、光滑(hua)材料
電(dian)極(ji)類型(xing):固定電(dian)極(ji)-測(ce)量電(dian)極(ji)φ38mm
測(ce)試(shi)頻率:20HZ-5MHZ
測試電極:黃銅電極
測試環境:室溫
三、軟件功能:
* 1、測試頻率(lv)可以掃描(miao)進行測試
*2、測(ce)試(shi)頻率可以單(dan)點(dian)測(ce)試(shi)
*3、測試頻(pin)率可以多頻(pin)設置測試
4、測試速(su)度模(mo)式:快(kuai)速(su)、中速(su)、慢速(su)
5、測試數據與曲線顯示:
*6、電阻率—測試頻率
*7、絕對介電常(chang)數--測試頻(pin)率
*8、相對介電常(chang)數--測試頻率(lv)
*9、相對介電常數虛部--測(ce)試頻率(lv)
*10、相對(dui)介電常數實部--測試頻(pin)率
*11、介質(zhi)損耗--測(ce)試(shi)頻率(lv)
*12、電(dian)容值--測試頻率(lv)
四 、測試電橋參數
測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR
測試頻率 20 Hz~5MHz,10mHz步進
測試信號電 f≤1MHz 10mV~5V,±(10%+10mV)
平 f>1MHz 10mV~1V,±(20%+10mV)
輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
基本準確度 0.1%
L 0.0001 uH ~ 9.9999kH
C 0.0001 pF ~ 9.9999F
R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ
顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ~ 99.999 S
D 0.0001 ~ 9.9999
Q 0.0001 ~ 99999
θ -179.99°~ 179.99°
測量速度 快速(su): 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz)
中速: 25次(ci)/s, 慢(man)速: 5次(ci)/s
校準功能 開路(lu) / 短路(lu)點頻、掃頻清(qing)零,負載(zai)校(xiao)準
等效方式 串聯方式(shi), 并聯方式(shi)
量程方式 自動, 保持
顯示方式 直讀, Δ, Δ%
觸發方式 內部, 手動(dong), 外部, 總線
內部直流偏 電壓模式 -5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進
置源 電流模式(內阻為50Ω) -100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進
比較器功能 10檔分選及計數功能
顯示器 320×240點陣(zhen)圖形LCD顯示
存儲器 可保存20組儀器設定值
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)
USB HOST(FAT16 and FAT32 support)
接口 LAN(LXI class C support)
RS232C
HANDLER
GPIB(選件)
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