產品介紹

固體高低頻介電常數檢測

GCSTD-DII

一、滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在(zai)工頻、音頻、高頻（包括米(mi)波波長在(zai)內）下電容率和介質損耗因數的推薦方法(fa)

GB/T1693-2007 硫化橡膠 介(jie)電常數(shu)和介(jie)質損(sun)耗角正(zheng)切值(zhi)的測定方(fang)法

ASTM D150/IEC 60250固(gu)體(ti)電(dian)絕緣(yuan)材料的(恒久電(dian)介質)的交流損耗特性和介電(dian)常數(shu)的測(ce)試(shi)方法

二、固體高低頻介電常數檢測技術要求：

接觸法(fa)：適用于厚度均勻、上下表面平整、光滑材料

電(dian)(dian)極類(lei)型：固定(ding)電(dian)(dian)極-測(ce)量電(dian)(dian)極φ38mm

測(ce)試頻率(lv)：20HZ-5MHZ

測試電極：黃銅電極

測試環境：室溫

三、軟件功能：

* 1、測試(shi)頻率可以掃描進行(xing)測試(shi)

*2、測(ce)(ce)試(shi)頻(pin)率可(ke)以單點測(ce)(ce)試(shi)

*3、測試(shi)頻(pin)(pin)率可(ke)以多(duo)頻(pin)(pin)設置(zhi)測試(shi)

4、測試速(su)度(du)模(mo)式(shi)：快速(su)、中速(su)、慢(man)速(su)

5、測試數據與曲線(xian)顯示：

*6、電(dian)阻率(lv)—測(ce)試頻(pin)率(lv)

*7、絕(jue)對(dui)介電(dian)常數--測試頻率

*8、相對介電常數--測試頻率(lv)

*9、相(xiang)對介(jie)電常數虛部--測試頻(pin)率

*10、相對介(jie)電常數(shu)實部(bu)--測試頻率

*11、介質損(sun)耗--測(ce)試頻率(lv)

*12、電容值--測試頻率

四 、測試電橋參數

測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測試頻率 20 Hz～5MHz,10mHz步進

測試信號電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準確度 0.1%

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C 0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D 0.0001 ～ 9.9999

Q 0.0001 ～ 99999

θ -179.99°～ 179.99°

測量速度 快速(su): 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）

中速: 25次(ci)/s, 慢速: 5次(ci)/s

校準功能 開(kai)路 / 短路點(dian)頻、掃頻清零，負載(zai)校準

等效方式 串聯(lian)方式, 并(bing)聯(lian)方式

量程方式 自動, 保持

顯示方式 直讀, Δ, Δ%

觸發方式 內部(bu), 手動, 外(wai)部(bu), 總(zong)線

內部直流偏 電壓模式 -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進

置源 電流模式（內阻為50Ω） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進(jin)

比較器功能 10檔分(fen)選(xuan)及計數功能

顯示器 320×240點(dian)陣(zhen)圖形LCD顯示

存儲器 可保存20組儀器設(she)定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)

USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB（選件）