產品介紹

高低頻介電常數測量儀

GCSTD-DII

一、滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣(yuan)材料在(zai)工頻、音頻、高頻（包(bao)括米波(bo)波(bo)長在(zai)內）下電容率(lv)和介質損耗因數(shu)的(de)推薦(jian)方法

GB/T1693-2007 硫(liu)化橡膠 介電常(chang)數和(he)介質損(sun)耗角正切值(zhi)的測定方(fang)法

ASTM D150/IEC 60250固體電(dian)絕緣材料的(de)(恒(heng)久電(dian)介質)的(de)交流損耗特性和介電(dian)常數的(de)測(ce)試方法

二、高低頻介電常數測量儀技術要求：

接觸法(fa)：適用于厚度均勻、上下表面平整、光滑材料

電極類(lei)型：固定電極-測(ce)量(liang)電極φ38mm

測試頻(pin)率：20HZ-5MHZ

測試電極：黃銅電極

測試環境：室溫

三、軟件功能：

* 1、測(ce)試頻率可以掃描進行(xing)測(ce)試

*2、測試(shi)(shi)頻率(lv)可以(yi)單點測試(shi)(shi)

*3、測(ce)(ce)試(shi)頻率可以(yi)多頻設(she)置測(ce)(ce)試(shi)

4、測(ce)試速度模式：快速、中速、慢(man)速

5、測試數據與曲線顯(xian)示：

*6、電阻率—測試(shi)頻率

*7、絕對介電常(chang)數--測試頻率

*8、相對(dui)介電常(chang)數--測試頻率(lv)

*9、相(xiang)對介(jie)電常(chang)數虛部--測(ce)試頻(pin)率

*10、相對介(jie)電常數實部(bu)--測試頻率

*11、介質損耗--測試(shi)頻率

*12、電(dian)容(rong)值(zhi)--測試頻率

四 、測試電橋參數

測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測試頻率 20 Hz～5MHz,10mHz步進

測試信號電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準確度 0.1%

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C 0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D 0.0001 ～ 9.9999

Q 0.0001 ～ 99999

θ -179.99°～ 179.99°

測量速度 快速(su): 200次(ci)(ci)/s（f﹥30kHz） ,100次(ci)(ci)/s（f﹥1kHz）

中速(su): 25次/s, 慢速(su): 5次/s

校準功能 開路 / 短路點(dian)頻、掃頻清零，負載校準

等效方式 串(chuan)聯方式, 并聯方式

量程方式 自動, 保持

顯示方式 直讀, Δ, Δ%

觸發方式 內部, 手動, 外部, 總線

內部直流偏 電壓模式 -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進

置源 電流模式（內阻為50Ω） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步(bu)進

比較器功能 10檔分(fen)選及計數功能

顯示器 320×240點陣圖形LCD顯示

存儲器 可保(bao)存20組儀器設定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)

USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB（選件）