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產品詳細頁PE/涂覆PE隔離膜電弱點測定儀DRD1000
- 產品型號:GCDRD-1000KV
- 更新時間:2024-07-18
- 產品(pin)介(jie)紹:PE/涂覆PE隔離膜電弱點測定儀DRD1000該儀器主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下自動升壓測定每平方米的擊穿點數。本儀器方式為微機控制,卷膜移動速度可設定,按照設定的升壓速率升壓,達到設定的電壓后,實時記錄當前的電壓值和電流值,并能夠實時記錄當前的擊穿點,試驗結束后自動歸零,自動統計電弱點數、電弱線數,自動計算每平方米的電弱點數
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產品介紹
PE/涂覆PE隔離膜電弱點測定儀DRD1000
GCDRD-1000KV
電弱點測試儀-(計算(suan)機控制)
•產品(pin)型號:GCDRD-650KV
•執(zhi)行標準(zhun):GB_T 13542.2-2009 IEC 60674-2:1988-電(dian)氣絕緣用薄(bo)膜 第2部分(fen)試(shi)驗(yan)方法(fa)
產品用途:
PE/涂覆PE隔離膜電弱點測定儀DRD1000,該(gai)儀器主(zhu)要用于電氣(qi)用聚氨(an)脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀(xi)薄膜等(deng)絕緣材料在給定(ding)直(zhi)流(liu)電壓下自動升壓測定(ding)每平(ping)方米的擊(ji)穿點數(shu)。
本(ben)儀器方(fang)式為微(wei)機控(kong)制(zhi),卷膜(mo)移動(dong)速(su)度可設定,按(an)照設定的(de)升壓(ya)速(su)率升壓(ya),達到設定的(de)電(dian)壓(ya)后,實(shi)(shi)時記錄當前的(de)電(dian)壓(ya)值(zhi)(zhi)和電(dian)流值(zhi)(zhi),并能夠實(shi)(shi)時記錄當前的(de)擊穿點(dian),試(shi)驗結束后自(zi)(zi)動(dong)歸零,自(zi)(zi)動(dong)統(tong)計電(dian)弱點(dian)數、電(dian)弱線數,自(zi)(zi)動(dong)計算每平方(fang)米(mi)的(de)電(dian)弱點(dian)數。
本儀器自動化程度高,操(cao)作(zuo)簡單、安裝卷膜(mo)方便、落地式結(jie)構方便操(cao)作(zuo)。
結構組成:
1、升壓(ya)(ya)部件:由調壓(ya)(ya)器和(he)高壓(ya)(ya)變壓(ya)(ya)器組成0~10KV的升壓(ya)(ya)部分(fen)。
2、動(dong) 部 件:通過調壓(ya)裝置勻速升壓(ya)到設定的電壓(ya)值。
3、檢(jian)測(ce)(ce)(ce)部件:由集成電(dian)(dian)路組(zu)成的(de)測(ce)(ce)(ce)量電(dian)(dian)路,實時(shi)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)測(ce)(ce)(ce)量數據傳給計算機。
4、計(ji)算機軟件:通過智能電路把由檢測設備采(cai)集(ji)的測控(kong)信號傳給計(ji)算機。計(ji)算機根(gen)據采(cai)集(ji)的信息控(kong)制設備運(yun)行(xing)并處理試驗(yan)結果。
5、收(shou)卷放卷:固定卷膜(mo)并按(an)照設定的速度旋轉運動
設備工作原理:
本(ben)測(ce)試儀(yi)試驗電(dian)壓(ya)是0-10KV直流電(dian)壓(ya),其波動(dong)為±1%。測(ce)試儀(yi)在試樣弱點(dian)擊(ji)穿(chuan)后約0.1s內(nei)使(shi)電(dian)壓(ya)回升到原來(lai)設定的(de)電(dian)壓(ya)。銅輥為下電(dian)極,導電(dian)橡膠為上電(dian)極。薄膜(mo)(mo)以(yi)2m-5m /min的(de)速度移動(dong),薄膜(mo)(mo)弱點(dian)時擊(ji)穿(chuan),擊(ji)穿(chuan)點(dian)自動(dong)累積計數。膜(mo)(mo)移動(dong)以(yi)平方數自動(dong)計數。
優勢特點:
1、操作簡單:放卷收(shou)卷固定后,點開始自動測(ce)試
2、動態顯示:在薄膜擊穿后,同步動態顯示曲線,直(zhi)觀可視(shi)
3、安裝方(fang)便(bian):把模(mo)卷放入氣(qi)漲軸(zhou),通氣(qi)自動固定(ding)
4、張力可調(diao):同能(neng)實時調(diao)節收卷、放卷的張力
5、多(duo)種模式:測(ce)試面積/測(ce)試長度(du)/測(ce)試時間
6、擊(ji)穿點判定:實時記錄電(dian)(dian)弱(ruo)點與測試長度(du)的(de)數據(ju),可以統計查詢電(dian)(dian)弱(ruo)點之間的(de)長度(du)
7、自動(dong)存儲(chu):試驗介紹后自動(dong)彈窗提示存儲(chu)數據(ju)
8、智(zhi)能自(zi)動(dong):本機(ji)智(zhi)能化、自(zi)動(dong)化程度高,無需專業培訓(xun),即(ji)可(ke)操作
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