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產品詳細(xi)頁(ye)
高頻介電常數及介質損耗測試儀GCSTD

高頻介電常數及介質損耗測試儀GCSTD

  • 產(chan)品(pin)型(xing)號:GCSTD-A/B
  • 更新(xin)時間:2024-07-17
  • 產品(pin)介紹:高頻介電常數及介質損耗測試儀GCSTD
    編號:GD201310250002
    規格:GCSTD-A
    高頻測量:10KHZ--50MHZ
    本產品是依據版本國家標準:GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法。
  • 在線留言 010-57223836/57223838

產品介紹

高頻介電常數及介質損耗測試儀GCSTD


主(zhu)要用途:主(zhu)要用于測(ce)量非金屬材(cai)料的介電常數(ε)和介質(zhi)損耗(tanδ)


應用對(dui)象:該儀器用于科研(yan)機關、學(xue)校(xiao)、工廠等單位(wei)對(dui)無機非金屬新材料性能的應用研(yan)究(jiu)。


滿足標準:

GB/T1409-2006測量電氣絕(jue)緣材料在工頻(pin)(pin)、音頻(pin)(pin)、高頻(pin)(pin)下電容率和介質損耗因數的推薦方法

GB/T 5654-2007液(ye)體絕(jue)緣材料 相對電容率、介質損耗(hao)因(yin)數和直(zhi)流電阻率的測量

GB/T 21216-2007絕緣液體 測量電(dian)(dian)導和電(dian)(dian)容確定介(jie)質損耗因(yin)數的試驗方(fang)法

GB/T 1693-2007硫化橡膠 介電常(chang)數和(he)介質損耗角正(zheng)切(qie)值的測(ce)定方法

GB/T 5594.4-1985__電子元器件(jian)結構陶瓷(ci)材料性能測試方(fang)(fang)法介質損耗(hao)角正切值的測試方(fang)(fang)法

GBT 1409-2006測量電(dian)(dian)氣(qi)絕緣材料在(zai)工頻、音頻、高頻(包括米波波長在(zai)內)下電(dian)(dian)容(rong)率和介(jie)質(zhi)

損耗因數的推薦方法

ASTM D150/IEC 60250固體電絕(jue)緣材料的(de)(恒久電介質)的(de)交流損(sun)耗(hao)特(te)性和介電常(chang)數(shu)的(de)測試方法


方法概述:

高頻介電常數及介質損耗測試儀GCSTD是各種電(dian)(dian)(dian)瓷(ci)、裝(zhuang)置(zhi)瓷(ci)、電(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong)器等(deng)(deng)陶瓷(ci),還有復合材料(liao)等(deng)(deng)的(de)(de)一(yi)項重要的(de)(de)物(wu)理性質,通過測定介(jie)質損耗(hao)角正切(qie)tanδ及介(jie)電(dian)(dian)(dian)常數(shu)(ε),可進一(yi)步了解影響介(jie)質損耗(hao)和(he)(he)介(jie)電(dian)(dian)(dian)常數(shu)的(de)(de)各種因素,為提(ti)高(gao)材料(liao)的(de)(de)性能提(ti)供(gong)依據;儀(yi)器的(de)(de)基本(ben)原(yuan)理是采用(yong)高(gao)頻(pin)(pin)諧(xie)振法,并(bing)提(ti)供(gong)了,通用(yong)、多用(yong)途、多量(liang)(liang)程(cheng)的(de)(de)阻抗測試。它(ta)以單片(pian)計算機作為儀(yi)器的(de)(de)控(kong)制,測量(liang)(liang)核心采用(yong)了頻(pin)(pin)率數(shu)字鎖(suo)定,標準頻(pin)(pin)率測試點(dian)自(zi)動(dong)設定,諧(xie)振點(dian)自(zi)動(dong)搜索,Q值(zhi)量(liang)(liang)程(cheng)自(zi)動(dong)轉換,數(shu)值(zhi)顯示等(deng)(deng)新技術,改進了調諧(xie)回路(lu),使得調諧(xie)測試回路(lu)的(de)(de)殘(can)余電(dian)(dian)(dian)感(gan)減至,并(bing)保留了原(yuan)Q表中自(zi)動(dong)穩(wen)幅等(deng)(deng)技術,使得新儀(yi)器在使用(yong)時更為方便,測量(liang)(liang)值(zhi)更為精確。儀(yi)器能在較高(gao)的(de)(de)測試頻(pin)(pin)率條件下,測量(liang)(liang)高(gao)頻(pin)(pin)電(dian)(dian)(dian)感(gan)或諧(xie)振回路(lu)的(de)(de)Q值(zhi),電(dian)(dian)(dian)感(gan)器的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)感(gan)量(liang)(liang)和(he)(he)分布電(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong)量(liang)(liang),電(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong)器的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong)量(liang)(liang)和(he)(he)損耗(hao)角正切(qie)值(zhi),電(dian)(dian)(dian)工材料(liao)的(de)(de)高(gao)頻(pin)(pin)介(jie)質損耗(hao),高(gao)頻(pin)(pin)回路(lu)有效并(bing)聯(lian)及串聯(lian)電(dian)(dian)(dian)阻,傳輸線的(de)(de)特性阻抗等(deng)(deng)。


備注說明:

三種不同(tong)型(xing)號(hao)的儀器,主要(yao)區(qu)別是頻(pin)率(lv)不同(tong),根據自(zi)己(ji)測試(shi)頻(pin)率(lv),選擇(ze)合適(shi)的型(xing)號(hao)


電極規格

固體(ti):材料測量直徑Φ38mm 可選(xuan);厚度可調 ≥ 15mm

液體:測量極(ji)片直徑Φ38mm; 液體杯內(nei)徑Φ48mm 、深(shen)7mm(選(xuan)配)

粉體:測(ce)量極片直徑Φ38mm; 液體杯內徑Φ48mm 、深7mm(選配(pei))

試(shi)樣要(yao)求:固(gu)體樣品厚度要(yao)求:0.5-15MM

產品配置:

1、測試主機:一臺

2、測試電感:9個

3、測(ce)試夾(jia)具:1套(標配固體(ti)測(ce)試夾(jia)具一(yi)套)


其它規格:

1、環境(jing)溫度:0℃~+40℃;

2、相對濕(shi)度(du):<80%;  

3、電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

4、消耗(hao)功率:約(yue)25W;

5、凈重:約7kg;

6、外型尺寸:(長寬高(gao)):380×280×132(mm)



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