產品介紹

GCSTD高低頻介電常數試驗儀

滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣(yuan)材料在工頻、音頻、高(gao)頻（包括米(mi)波(bo)波(bo)長在內）下電容

率和介(jie)質損耗因數的推薦方法

GB／T1693-2007硫化(hua)橡膠介電常數(shu)和介質(zhi)損耗角正切值的測定方法

ASTM D150／IEC 60250固體電(dian)絕緣材(cai)料的（恒久(jiu)電(dian)介(jie)質(zhi)）的交流損耗特性和介(jie)電(dian)常(chang)數

的測試方法

GCSTD高低頻介電常數試驗儀試驗方法：

接觸(chu)法：適用于厚度均(jun)勻(yun)、上下表(biao)面(mian)平整、光滑材料

非接觸法：適用(yong)于上下表(biao)面不平(ping)整、不光滑材料

電(dian)(dian)極類型：固定電(dian)(dian)極-測量電(dian)(dian)極φ38mm／φ50mm（標(biao)配電(dian)(dian)極1套，標(biao)配為38mm）

液體電極-液體容量15ml

粉體(ti)電(dian)極(ji)-根據樣(yang)品量可配專用電(dian)極(ji)

試(shi)樣(yang)類型：固體、液體、粉(fen)體、膏體／規則物或者不(bu)規則物

性能特點：

測試頻率20H2～2MHz，10mHz步(bu)進

測試電平10mV～5V，1mV步進(jin)

基本準確度0.1％

最高達(da)200次／s的測量速度

320x240點(dian)陣大型圖形LCD顯(xian)示

五位讀數分辨率

可測量22種阻抗參數(shu)組合(he)

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置(zhi)偏流源至(zhi)40A（配置(zhi)兩(liang)臺(tai)TH1776）（選件）

電壓或電流的自動電平調整(zheng)（ALC）功能

V、1測試信號(hao)電平監視功能

圖形掃描分析功能

20組內(nei)部(bu)儀器設(she)定可供(gong)儲存／讀(du)取

內建比較(jiao)器，10檔分(fen)選及計數(shu)功能(neng)

多(duo)種通訊(xun)接(jie)口方便用戶聯機使用

2m／4m測試電纜擴(kuo)展（選(xuan)件）

中英文可選操作界面

可通過USB HOST 自(zi)動升級儀器工作(zuo)程序

測試材料：

無源元件(jian)：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓(ya)電器件(jian)、變(bian)壓(ya)器、芯片組件(jian)和網絡元件(jian)

等的陽(yang)抗參數(shu)評估和性能分析。

半導體(ti)元件：變(bian)容二極管的(de)(de)C-VDC特性；晶體(ti)管或(huo)集成電(dian)路的(de)(de)寄(ji)生參數分析(xi)

其它元件：印(yin)制電路板、繼(ji)電器、開關、電纜、電池等的阻抗評(ping)估(gu)

介質(zhi)材料(liao)：塑料(liao)、陶瓷(ci)和其它材料(liao)的介電(dian)常(chang)數和損耗角(jiao)評估

磁(ci)性(xing)材料(liao)：鐵氧體、非晶(jing)體和(he)其它磁(ci)性(xing)材料(liao)的導磁(ci)率(lv)和(he)損耗角(jiao)評估

半(ban)(ban)導體材料(liao)：半(ban)(ban)導體材料(liao)的介電常(chang)數、導電率和C-V特性

液晶材料：液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特(te)性