產品介紹

GCSTD-D高低頻介電常數實驗儀GCSTD

滿足標準：

GBT 1409-2006測(ce)量電氣絕緣材料在(zai)工頻(pin)、音(yin)頻(pin)、高(gao)頻(pin)（包(bao)括米波波長在(zai)內）下電容

率和(he)介質損耗因數(shu)的推(tui)薦方法(fa)

GB／T1693-2007硫化(hua)橡膠介電常數和介質損耗(hao)角(jiao)正切值的測定方法

ASTM D150／IEC 60250固體電絕緣(yuan)材(cai)料的(de)（恒(heng)久電介(jie)質）的(de)交(jiao)流損(sun)耗特性(xing)和介(jie)電常數

的測試方法

高低頻介電常數實驗儀GCSTD試驗方法：

接觸法：適用于厚度均(jun)勻、上下表面平整、光滑材料

非接觸法(fa)：適用于上下表面不平整、不光滑材料

電(dian)極類型：固定電(dian)極-測量電(dian)極φ38mm／φ50mm（標(biao)(biao)配電(dian)極1套，標(biao)(biao)配為38mm）

液體電(dian)極-液體容量15ml

粉體電極-根(gen)據(ju)樣品量可配專用電極

試樣類型：固體、液體、粉體、膏體／規(gui)則(ze)物(wu)或者不規(gui)則(ze)物(wu)

性能特點：

測試頻率20H2～2MHz，10mHz步進

測試電平10mV～5V，1mV步(bu)進

基本準確度0.1％

最高(gao)達200次／s的測量速(su)度

320x240點(dian)陣大型圖形(xing)LCD顯示

五位讀數分辨率

可測量22種阻抗參數(shu)組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置偏流源至40A（配置兩臺TH1776）（選件）

電(dian)壓或(huo)電(dian)流的(de)自動電(dian)平調整（ALC）功能(neng)

V、1測試(shi)信號電平(ping)監視功能

圖形掃描分析功能

20組內部儀器設(she)定可供(gong)儲存／讀取

內建比(bi)較器，10檔分選(xuan)及計數功(gong)能

多種通訊(xun)接口方便用(yong)戶聯(lian)機使用(yong)

2m／4m測試電纜擴展（選件）

中英文可選操作界面

可通過USB HOST 自動升級儀(yi)器(qi)工作程序

測試材料：

無源元(yuan)(yuan)件(jian)：電(dian)(dian)容器、電(dian)(dian)感器、磁芯、電(dian)(dian)阻器、壓電(dian)(dian)器件(jian)、變壓器、芯片組(zu)件(jian)和網(wang)絡(luo)元(yuan)(yuan)件(jian)

等的(de)陽抗參(can)數評估(gu)和性能分析。

半導體元件(jian)：變(bian)容二(er)極管的C-VDC特性；晶體管或(huo)集成電路(lu)的寄生參數(shu)分(fen)析

其(qi)它元件：印制電(dian)路板、繼電(dian)器、開關、電(dian)纜、電(dian)池等(deng)的(de)阻抗(kang)評估

介(jie)質(zhi)材(cai)料(liao)：塑料(liao)、陶瓷(ci)和(he)(he)其它材(cai)料(liao)的介(jie)電常數(shu)和(he)(he)損耗角評估

磁性材料：鐵氧(yang)體、非晶(jing)體和其(qi)它磁性材料的(de)導磁率和損耗角評估

半導(dao)(dao)體材料：半導(dao)(dao)體材料的介電(dian)常數、導(dao)(dao)電(dian)率和C-V特(te)性

液(ye)晶材料(liao)：液(ye)晶單(dan)元(yuan)的介電常數、彈性常數等C-V特性