產品介紹

GCSTD-D高低頻介電常數測定儀GCSTD

滿足標準：

GBT 1409-2006測量(liang)電氣絕(jue)緣材料在工頻、音頻、高頻（包括(kuo)米(mi)波波長(chang)在內）下電容

率和介質(zhi)損耗因數的推薦方法

GB／T1693-2007硫化橡膠介電(dian)常數和介質損耗角正(zheng)切值的測定方法

ASTM D150／IEC 60250固體電絕緣材料(liao)的（恒久電介(jie)質(zhi)）的交流損耗特性和介(jie)電常數(shu)

的測試方法

高低頻介電常數測定儀GCSTD試驗方法：

接觸法：適用于(yu)厚度均(jun)勻、上下表(biao)面平整、光(guang)滑材料(liao)

非接觸法：適(shi)用于(yu)上下表面不平整、不光滑材料

電(dian)極類(lei)型：固定電(dian)極-測量電(dian)極φ38mm／φ50mm（標配(pei)電(dian)極1套，標配(pei)為38mm）

液體電極-液體容量15ml

粉體電極-根據樣品(pin)量可配(pei)專用電極

試樣類(lei)型：固(gu)體(ti)(ti)(ti)、液體(ti)(ti)(ti)、粉體(ti)(ti)(ti)、膏體(ti)(ti)(ti)／規則物(wu)或者(zhe)不規則物(wu)

性能特點：

測試頻(pin)率20H2～2MHz，10mHz步(bu)進

測試(shi)電平(ping)10mV～5V，1mV步進

基本準確度0.1％

最高(gao)達200次／s的測量速度

320x240點陣(zhen)大型圖(tu)形LCD顯示

五位讀數分辨率

可測(ce)量22種(zhong)阻(zu)抗參數組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置偏(pian)流源至40A（配置兩臺TH1776）（選(xuan)件）

電壓或電流的自動電平調整（ALC）功能

V、1測試信號電平監(jian)視功能

圖形掃描分析功能

20組內部(bu)儀器設定可供儲(chu)存／讀取

內建比較(jiao)器，10檔分選(xuan)及計數功能(neng)

多種通訊(xun)接(jie)口方便用(yong)戶聯機(ji)使用(yong)

2m／4m測試電纜擴展（選件）

中英文可選操作界面

可通過USB HOST 自(zi)動升級(ji)儀器工作程(cheng)序

測試材料：

無源元件：電(dian)容器(qi)(qi)、電(dian)感器(qi)(qi)、磁芯、電(dian)阻器(qi)(qi)、壓電(dian)器(qi)(qi)件、變壓器(qi)(qi)、芯片組(zu)件和網絡(luo)元件

等(deng)的(de)陽抗參數評(ping)估和性(xing)能分析。

半(ban)導體(ti)元件(jian)：變(bian)容二極管(guan)的C-VDC特性；晶體(ti)管(guan)或集成電路的寄生參(can)數分析

其它元件：印制(zhi)電(dian)路(lu)板、繼(ji)電(dian)器、開關、電(dian)纜、電(dian)池等的阻抗評估

介質材(cai)料：塑料、陶瓷和(he)其它材(cai)料的(de)介電常數和(he)損耗(hao)角評估

磁性(xing)(xing)材料：鐵(tie)氧體(ti)、非(fei)晶體(ti)和其(qi)它磁性(xing)(xing)材料的導磁率和損耗(hao)角(jiao)評估

半導(dao)體材(cai)(cai)料(liao)：半導(dao)體材(cai)(cai)料(liao)的介電常數(shu)、導(dao)電率和C-V特性

液晶材料：液晶單元的介電(dian)常數(shu)(shu)、彈性常數(shu)(shu)等C-V特性