產品介紹

GCSTD-D高低頻介電常數及介質損耗測試儀器

滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣(qi)絕緣(yuan)材料在工頻(pin)(pin)、音頻(pin)(pin)、高(gao)頻(pin)(pin)（包(bao)括米波波長(chang)在內）下電容

率和介(jie)質損耗因數(shu)的(de)推薦方法(fa)

GB／T1693-2007硫(liu)化橡膠介電(dian)常數和介質損耗(hao)角正切值的(de)測(ce)定(ding)方法

ASTM D150／IEC 60250固(gu)體電絕緣材料的（恒久電介質）的交流(liu)損耗(hao)特性和介電常數(shu)

的測試方法

高低頻介電常數及介質損耗測試儀器試驗方法：

接觸法(fa)：適用于厚度均勻、上(shang)下表面平(ping)整、光(guang)滑材料

非接觸法：適(shi)用于上下表(biao)面不(bu)(bu)平整、不(bu)(bu)光滑材料

電(dian)極(ji)類型(xing)：固(gu)定電(dian)極(ji)-測量電(dian)極(ji)φ38mm／φ50mm（標配電(dian)極(ji)1套，標配為38mm）

液體電極-液體容量15ml

粉(fen)體電(dian)極(ji)-根據樣品量可(ke)配專用電(dian)極(ji)

試(shi)樣類(lei)型：固體、液體、粉(fen)體、膏體／規則物或(huo)者(zhe)不規則物

性能特點：

測試頻(pin)率20H2～2MHz，10mHz步進

測試電平10mV～5V，1mV步進(jin)

基本準確度0.1％

最高達200次(ci)／s的測(ce)量(liang)速(su)度

320x240點陣(zhen)大型圖形LCD顯示

五位讀數分辨率

可測量22種(zhong)阻抗參數組(zu)合(he)

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外(wai)置偏流源至40A（配置兩臺TH1776）（選(xuan)件）

電壓或電流(liu)的自動電平調整（ALC）功能

V、1測試信號(hao)電平監視功能

圖形掃描分析功能

20組(zu)內(nei)部儀器設(she)定可(ke)供(gong)儲存／讀取

內建比較(jiao)器，10檔分選及計數功(gong)能

多種通訊接口方便用戶聯機(ji)使用

2m／4m測試電纜擴展（選件）

中英文可選操作界面

可通(tong)過USB HOST 自動升(sheng)級儀器(qi)工作(zuo)程序

測試材料：

無源元件：電(dian)容器(qi)、電(dian)感器(qi)、磁芯、電(dian)阻器(qi)、壓(ya)電(dian)器(qi)件、變壓(ya)器(qi)、芯片組件和網絡元件

等的(de)陽抗參數評估和性能分析。

半導體元件：變容二極(ji)管(guan)的C-VDC特性；晶體管(guan)或(huo)集成(cheng)電路的寄生參數分析(xi)

其(qi)它元件(jian)：印制電(dian)(dian)路板、繼(ji)電(dian)(dian)器(qi)、開關(guan)、電(dian)(dian)纜、電(dian)(dian)池(chi)等的阻抗評(ping)估(gu)

介質材料：塑料、陶瓷(ci)和(he)其它材料的介電常數和(he)損耗角評估

磁性(xing)(xing)材料：鐵氧體、非晶(jing)體和(he)(he)其它磁性(xing)(xing)材料的導磁率和(he)(he)損(sun)耗角(jiao)評估

半(ban)導(dao)體材料：半(ban)導(dao)體材料的介(jie)電常數、導(dao)電率和C-V特性(xing)

液晶材料：液晶單元(yuan)的(de)介電常(chang)(chang)數(shu)、彈性常(chang)(chang)數(shu)等C-V特性