產品介紹

GCSTD-D電容器高低頻介電常數實驗儀GCSTD

滿足標準：

GBT 1409-2006測量(liang)電氣絕緣材(cai)料在(zai)(zai)工頻、音(yin)頻、高頻（包括米波波長在(zai)(zai)內）下(xia)電容

率和介質(zhi)損耗(hao)因數的推薦方法

GB／T1693-2007硫化橡膠介(jie)電常數和介(jie)質損耗角正切值的測(ce)定(ding)方法(fa)

ASTM D150／IEC 60250固體電(dian)絕緣材料的（恒久電(dian)介質(zhi)）的交流損耗特性和介電(dian)常數

的測試方法

電容器高低頻介電常數實驗儀GCSTD試驗方法：

接觸法：適用于(yu)厚度均勻、上(shang)下表面平(ping)整、光滑材(cai)料

非(fei)接(jie)觸法：適用于上(shang)下表面不(bu)平整(zheng)、不(bu)光(guang)滑材料

電極類型(xing)：固定電極-測量電極φ38mm／φ50mm（標(biao)配電極1套，標(biao)配為38mm）

液體(ti)電極(ji)-液體(ti)容量15ml

粉體電極(ji)-根據(ju)樣品量可(ke)配(pei)專用電極(ji)

試樣(yang)類(lei)型：固(gu)體、液體、粉體、膏體／規(gui)則(ze)物或者不規(gui)則(ze)物

性能特點：

測試頻率20H2～2MHz，10mHz步進

測試電平10mV～5V，1mV步進(jin)

基本準確度0.1％

最高達200次(ci)／s的測量(liang)速度(du)

320x240點陣大型圖(tu)形LCD顯示

五位讀數分辨率

可測量22種阻抗參(can)數組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外(wai)置偏(pian)流源(yuan)至40A（配置兩臺TH1776）（選件）

電壓或電流的自動電平調整（ALC）功能

V、1測試信(xin)號電平監視功能

圖形掃描分析功能

20組(zu)內(nei)部儀器設定可供儲存(cun)／讀取

內建比較(jiao)器(qi)，10檔分選及計數功(gong)能

多種通訊接口(kou)方便(bian)用(yong)戶聯機(ji)使用(yong)

2m／4m測試電纜(lan)擴展（選件）

中英文可選操作界面

可(ke)通過USB HOST 自動(dong)升級(ji)儀(yi)器工作程(cheng)序(xu)

測試材料：

無源元件(jian)：電(dian)容器(qi)(qi)、電(dian)感器(qi)(qi)、磁芯、電(dian)阻器(qi)(qi)、壓電(dian)器(qi)(qi)件(jian)、變壓器(qi)(qi)、芯片組件(jian)和網絡元件(jian)

等的陽抗參數評估(gu)和性(xing)能(neng)分(fen)析。

半導體元件：變容二(er)極管的(de)C-VDC特性；晶體管或集成電路的(de)寄(ji)生參數分析

其(qi)它元件：印制電(dian)路板(ban)、繼電(dian)器、開(kai)關、電(dian)纜、電(dian)池等的阻抗評(ping)估

介(jie)質(zhi)材料(liao)：塑料(liao)、陶瓷和其(qi)它材料(liao)的(de)介(jie)電(dian)常數和損耗角評估

磁性(xing)材料：鐵氧體(ti)、非晶體(ti)和(he)其(qi)它磁性(xing)材料的(de)導磁率和(he)損耗角評估(gu)

半導體材料(liao)：半導體材料(liao)的介(jie)電(dian)常數(shu)、導電(dian)率和C-V特性

液晶材(cai)料(liao)：液晶單元的介電常(chang)數(shu)、彈性(xing)常(chang)數(shu)等C-V特(te)性(xing)