產品介紹

GCSTD-D電感器介電常數實驗儀GCSTD

滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料(liao)在工頻(pin)(pin)、音頻(pin)(pin)、高頻(pin)(pin)（包(bao)括米波(bo)波(bo)長(chang)在內）下電容(rong)

率和介質損耗(hao)因數的推薦(jian)方法

GB／T1693-2007硫化(hua)橡膠介(jie)電(dian)常數和(he)介(jie)質損耗角正切值(zhi)的測定方法

ASTM D150／IEC 60250固體電絕(jue)緣材料的(de)（恒(heng)久電介質(zhi)）的(de)交流損耗特(te)性和介電常數

的測試方法

電感器介電常數實驗儀GCSTD試驗方法：

接觸法(fa)：適用于厚度(du)均勻(yun)、上下表面平(ping)整、光滑(hua)材料

非(fei)接觸法：適用于上下表面不平整、不光滑材料

電極(ji)類(lei)型：固定(ding)電極(ji)-測(ce)量電極(ji)φ38mm／φ50mm（標配電極(ji)1套，標配為38mm）

液(ye)體電極-液(ye)體容量15ml

粉體電極-根(gen)據(ju)樣品量可(ke)配專(zhuan)用電極

試樣類型：固體(ti)(ti)、液體(ti)(ti)、粉(fen)體(ti)(ti)、膏體(ti)(ti)／規則(ze)(ze)物或者不規則(ze)(ze)物

性能特點：

測試頻率20H2～2MHz，10mHz步進(jin)

測試電平(ping)10mV～5V，1mV步進(jin)

基本準確度0.1％

最高達200次／s的測量速度(du)

320x240點(dian)陣大(da)型圖形LCD顯示

五位讀數分辨率

可測量22種阻抗參數組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置偏流源至40A（配置兩臺TH1776）（選件）

電(dian)壓或電(dian)流的自(zi)動電(dian)平調整（ALC）功能

V、1測試信號電平(ping)監視功能

圖形掃描分析功能

20組內部儀器設定可供(gong)儲(chu)存／讀取

內建比較器，10檔(dang)分(fen)選及計數功能

多種通訊接口方便(bian)用戶聯機使用

2m／4m測(ce)試(shi)電纜擴展（選件）

中英文可選操作界面

可通過USB HOST 自動升(sheng)級(ji)儀器工作程序

測試材料：

無源元(yuan)件(jian)：電容器(qi)、電感器(qi)、磁芯、電阻器(qi)、壓電器(qi)件(jian)、變(bian)壓器(qi)、芯片(pian)組(zu)件(jian)和網絡(luo)元(yuan)件(jian)

等的陽抗參數評估(gu)和性能分析。

半(ban)導體元件(jian)：變容(rong)二極管的C-VDC特性；晶(jing)體管或集(ji)成電(dian)路(lu)的寄生(sheng)參數分析

其它元件(jian)：印制電(dian)路(lu)板、繼(ji)電(dian)器、開關、電(dian)纜、電(dian)池(chi)等的(de)阻抗評估

介質材(cai)料(liao)：塑(su)料(liao)、陶瓷和其它材(cai)料(liao)的(de)介電常數和損(sun)耗角評(ping)估

磁性(xing)材料：鐵氧體、非晶體和(he)其(qi)它(ta)磁性(xing)材料的導磁率和(he)損耗角評估

半導體(ti)材料(liao)：半導體(ti)材料(liao)的(de)介(jie)電常數、導電率和C-V特(te)性

液晶材料：液晶單元的介(jie)電(dian)常數(shu)(shu)、彈(dan)性(xing)常數(shu)(shu)等C-V特性(xing)