產品介紹

 電阻器高低頻介電常數測試儀

滿足標準：

GBT 1409-2006測量電(dian)氣(qi)絕緣材(cai)料在工(gong)頻(pin)、音頻(pin)、高頻(pin)（包括米波波長在內）下電(dian)容

率和介(jie)質損耗因(yin)數的(de)推薦方法

GB／T1693-2007硫化橡膠介電(dian)常(chang)數和介質損耗角正切(qie)值(zhi)的測定方法(fa)

ASTM D150／IEC 60250固體(ti)電絕緣(yuan)材料的（恒久電介質）的交流損耗特性和介電常數

的測試方法

 電阻器高低頻介電常數測試儀試驗方法：

接觸(chu)法(fa)：適用于厚(hou)度均勻(yun)、上下表面平(ping)整、光滑(hua)材料

非接觸法：適用于上下(xia)表面(mian)不平(ping)整、不光滑材(cai)料

電(dian)(dian)(dian)極(ji)類型：固定電(dian)(dian)(dian)極(ji)-測量電(dian)(dian)(dian)極(ji)φ38mm／φ50mm（標配電(dian)(dian)(dian)極(ji)1套，標配為38mm）

液體(ti)電極-液體(ti)容量15ml

粉體(ti)電(dian)極(ji)-根據樣品量(liang)可配專(zhuan)用電(dian)極(ji)

試(shi)樣(yang)類(lei)型(xing)：固體、液(ye)體、粉(fen)體、膏體／規(gui)則(ze)物或(huo)者不規(gui)則(ze)物

性能特點：

測試頻率20H2～2MHz，10mHz步進

測試電(dian)平10mV～5V，1mV步進

基本準確度0.1％

最高達200次／s的測量(liang)速度

320x240點陣大型圖(tu)形LCD顯示

五位讀數分辨率

可(ke)測量22種(zhong)阻(zu)抗參數組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置偏流源至40A（配置兩臺TH1776）（選件(jian)）

電(dian)壓或電(dian)流的自動電(dian)平調整(zheng)（ALC）功能

V、1測試信號電(dian)平監視功能

圖形掃描分析功能

20組內(nei)部(bu)儀器設定(ding)可供儲存／讀(du)取(qu)

內建比(bi)較器，10檔分選及(ji)計數功能

多種通訊接口方便用戶聯機使用

2m／4m測(ce)試(shi)電纜擴展(zhan)（選件）

中英文可選操作界面

可通過(guo)USB HOST 自(zi)動(dong)升(sheng)級儀器工(gong)作程序

測試材料：

無(wu)源元件：電(dian)容器、電(dian)感器、磁芯、電(dian)阻器、壓電(dian)器件、變(bian)壓器、芯片組件和網(wang)絡元件

等的陽抗參數(shu)評估和(he)性能分析。

半導體元件(jian)：變容二極管的C-VDC特性；晶體管或集成(cheng)電路的寄(ji)生參數分析

其(qi)它元件：印制電路板(ban)、繼電器、開(kai)關、電纜(lan)、電池等的(de)阻(zu)抗評(ping)估

介質材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shu)和損耗角評估

磁(ci)(ci)性材料(liao)：鐵(tie)氧體、非晶體和其它磁(ci)(ci)性材料(liao)的導磁(ci)(ci)率和損耗(hao)角評估

半導體材料：半導體材料的(de)介電常數、導電率和(he)C-V特性(xing)

液晶(jing)材料：液晶(jing)單元的介電常(chang)(chang)數、彈性常(chang)(chang)數等C-V特性