產品介紹

壓電器件介電常數及介質損耗測試儀

滿足標準：

GBT 1409-2006測量電(dian)氣絕緣(yuan)材料在工頻(pin)、音頻(pin)、高頻(pin)（包括米波波長(chang)在內）下電(dian)容

率和介質損(sun)耗因(yin)數的(de)推薦方(fang)法(fa)

GB／T1693-2007硫化(hua)橡膠介電常數(shu)和介質損耗角正切(qie)值的測(ce)定方法(fa)

ASTM D150／IEC 60250固體電(dian)絕(jue)緣材料的(de)（恒久電(dian)介(jie)質）的(de)交(jiao)流損耗特性(xing)和介(jie)電(dian)常(chang)數

的測試方法

壓電器件介電常數及介質損耗測試儀試驗方法：

接(jie)觸法：適用于厚度均勻、上下表面平整、光滑材料

非接(jie)觸法：適用(yong)于上下表(biao)面不平整、不光滑材料

電(dian)極(ji)類型：固定電(dian)極(ji)-測量電(dian)極(ji)φ38mm／φ50mm（標配電(dian)極(ji)1套，標配為(wei)38mm）

液體電極-液體容量15ml

粉體電極-根據樣(yang)品量可配專用電極

試樣類型：固體(ti)(ti)(ti)、液體(ti)(ti)(ti)、粉體(ti)(ti)(ti)、膏體(ti)(ti)(ti)／規(gui)則物或者不(bu)規(gui)則物

性能特點：

測試頻率20H2～2MHz，10mHz步進

測試電(dian)平10mV～5V，1mV步進

基本準確度0.1％

最高達(da)200次／s的測量速度

320x240點(dian)陣大(da)型圖形(xing)LCD顯示

五位讀數分辨率

可測(ce)量22種阻抗參數組(zu)合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置偏流源至40A（配(pei)置兩(liang)臺TH1776）（選件）

電壓(ya)或電流的(de)自(zi)動電平調整(zheng)（ALC）功能

V、1測試信(xin)號電平監視功能(neng)

圖形掃描分析功能

20組內(nei)部(bu)儀(yi)器(qi)設定(ding)可供儲(chu)存／讀取

內建比較器，10檔分選及計數功能

多(duo)種通(tong)訊接口(kou)方便用(yong)戶聯機(ji)使用(yong)

2m／4m測試(shi)電纜擴(kuo)展（選件）

中英文可選操作界面

可通過(guo)USB HOST 自動升級儀(yi)器工作程(cheng)序

測試材料：

無源元件：電(dian)(dian)容器(qi)(qi)(qi)、電(dian)(dian)感器(qi)(qi)(qi)、磁(ci)芯、電(dian)(dian)阻器(qi)(qi)(qi)、壓(ya)電(dian)(dian)器(qi)(qi)(qi)件、變壓(ya)器(qi)(qi)(qi)、芯片(pian)組件和網絡元件

等的陽抗參數評(ping)估和性能(neng)分析。

半導(dao)體元件：變容二極管的C-VDC特性；晶體管或集成電(dian)路的寄生參數(shu)分析

其它元件：印制電路(lu)板、繼電器、開關、電纜、電池等(deng)的阻抗評估

介質材(cai)料(liao)：塑料(liao)、陶(tao)瓷和其(qi)它材(cai)料(liao)的介電常數和損耗角評估

磁(ci)性材料(liao)：鐵氧體、非(fei)晶體和(he)其它磁(ci)性材料(liao)的導磁(ci)率和(he)損耗角評估

半導(dao)(dao)體材料：半導(dao)(dao)體材料的(de)介電(dian)常數、導(dao)(dao)電(dian)率(lv)和C-V特性

液晶材(cai)料：液晶單(dan)元的介(jie)電常數(shu)、彈性常數(shu)等C-V特性