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產品詳細頁(ye)
航天顆粒圖像分析儀

航天顆粒圖像分析儀

  • 產品型號:ZKFT-1600
  • 更新(xin)時間:2024-07-17
  • 產品介紹:航天顆粒圖像分析儀
    *出色的外觀設計,符合人機工程學的結構設計
    *機身一體化的設計,使產品長期保持優異穩定性能
    *優質的3WLED照明,穩定和超常使用壽命
    *無限遠色差校正光學系統,普通光學校正系統,可滿足不同用戶的需求
  • 在線留言 010-57223836/57223838

產品介紹

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ZKFT-1600航天顆粒圖像分析儀

一、產品簡介

  航天顆粒圖像分析儀 ZKFT-1600圖(tu)像顆粒(li)分(fen)析儀包括光學(xue)顯微(wei)鏡、數字CCD攝像頭、圖(tu)像處(chu)理與分(fen)析軟件、電(dian)腦、打印機等部(bu)分(fen)組成。它(ta)是將(jiang)傳統的(de)(de)顯微(wei)測量方法與現代的(de)(de)圖(tu)像處(chu)理技術結(jie)合(he)的(de)(de)產物。它(ta)的(de)(de)基本工作流程是通過專用數字攝像機將(jiang)顯微(wei)鏡的(de)(de)圖(tu)像拍攝下(xia)來并傳輸(shu)到(dao)電(dian)腦中,通過專門的(de)(de)顆粒(li)圖(tu)像分(fen)析軟件對(dui)顆粒(li)圖(tu)像進行處(chu)理與分(fen)析,從(cong)而得到(dao)每一個顆粒(li)的(de)(de)粒(li)度和(he)粒(li)形信息(xi),再將(jiang)每一個顆粒(li)的(de)(de)粒(li)度和(he)粒(li)形信息(xi)進行統計,從(cong)而得到(dao)粒(li)度(D50)及粒(li)度分(fen)布(bu)、平均(jun)長徑比及長徑比分(fen)布(bu)、平均(jun)圓形度及圓形度分(fen)布(bu)等結(jie)果。

       ZKFT-1600直觀、形象、準(zhun)確特(te)點,它是(shi)將微米級以(yi)上的(de)(de)顆(ke)粒放大(da)(da)幾十、數百(bai)乃(nai)至上千倍,將整個顆(ke)粒形狀(zhuang)顯示(shi)在人們的(de)(de)眼前,使人一目了然。它不僅能看到顆(ke)粒,還能通(tong)過(guo)(guo)“尺(chi)子"來量(liang)每一個顆(ke)粒的(de)(de)大(da)(da)小,并通(tong)過(guo)(guo)圖像處(chu)理技術(shu)得(de)到所(suo)有(you)顆(ke)粒的(de)(de)直徑(jing),進而得(de)到粒度分(fen)布(bu)、平均長徑(jing)比以(yi)及(ji)長徑(jing)比分(fen)布(bu)等。ZKFT-1600為(wei)粉體(ti)材料的(de)(de)科研、生產和應用(yong)領域增添了一種直觀、簡便、準(zhun)確的(de)(de)粒度粒形測(ce)試手段。

       ZKFT-1600靜態(tai)圖(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)顆(ke)(ke)粒分析儀還具有(you)很多(duo)(duo)圖(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)處理(li)(li)功(gong)能,包括(kuo)自(zi)動(dong)(dong)拍(pai)(pai)攝、自(zi)動(dong)(dong)分割、自(zi)動(dong)(dong)填充(chong)、批處理(li)(li)多(duo)(duo)幅(fu)圖(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)、準確(que)性標定(ding)等。其中眾多(duo)(duo)的“自(zi)動(dong)(dong)"功(gong)能簡化(hua)了操(cao)作,提(ti)高了效率;批處理(li)(li)多(duo)(duo)幅(fu)圖(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)功(gong)能,克(ke)服了傳(chuan)統的靜態(tai)圖(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)顆(ke)(ke)粒分析儀僅能分析單幅(fu)圖(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang),導(dao)致(zhi)顆(ke)(ke)粒數太(tai)少,代(dai)(dai)表性不足,結果不準確(que)的問(wen)題。它可以(yi)拍(pai)(pai)攝很多(duo)(duo)幅(fu)圖(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang),對這些圖(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)一(yi)幅(fu)一(yi)幅(fu)地處理(li)(li),每一(yi)幅(fu)處理(li)(li)過(guo)的圖(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)上的顆(ke)(ke)粒都匯集到一(yi)起,提(ti)高了代(dai)(dai)表性。


二、產品特點:

*出色的(de)外觀設(she)計(ji),符合人(ren)機工程學的(de)結構設(she)計(ji)

*機身一體化的設計,使(shi)產品長期保(bao)持(chi)優異穩定性能

*優質的3WLED照明,穩(wen)定和(he)超常(chang)使用壽命

*無限遠色(se)差(cha)校正(zheng)光(guang)學系統,普通(tong)光(guang)學校正(zheng)系統,可(ke)滿足不同用戶的需(xu)求


三、主要應用領域:(觀察粒(li)形、分(fen)析粒(li)度、監測(ce)大顆(ke)粒(li))

   • 磨料:如碳化(hua)硅、剛(gang)玉、金(jin)剛(gang)石、石榴石等。

   • 電池材料:球形石墨粉等。

   • 金屬粉:如球形鋁(lv)粉、鉛錫合金粉、其它(ta)霧化金屬粉。

   • 非金屬粉(fen):如(ru)玻璃珠、聚苯(ben)乙烯等。

   • 針狀粉:如硅灰(hui)石(shi)等(deng)。

   • 生(sheng)物制劑:如(ru)細胞。

   • 食品:如(ru)牛奶(nai)、面粉等(deng)。

   • 其他:如科研(yan)、教學等。


四、測試原理

   • 標定方法:用顯微(wei)鏡專用標準刻度尺(chi)(chi)直接(jie)標定每個像素(su)的尺(chi)(chi)寸(cun),再根據每個顆粒圖(tu)像面積(ji)所占的像素(su)多少來度量顆粒的大(da)小,以微(wei)米為單位。

   • 測試原(yuan)理:通過(guo)對(dui)顆(ke)(ke)(ke)粒(li)(li)數(shu)量(liang)和每個(ge)顆(ke)(ke)(ke)粒(li)(li)所包含的(de)像素(su)數(shu)量(liang)的(de)統計(ji),計(ji)算出每個(ge)顆(ke)(ke)(ke)粒(li)(li)的(de)等圓(yuan)面積(ji)和等球(qiu)體積(ji),從而得(de)到(dao)顆(ke)(ke)(ke)粒(li)(li)的(de)等圓(yuan)面積(ji)直(zhi)徑、等球(qiu)體積(ji)直(zhi)徑以及長徑比等。為計(ji)算方便,ZKFT-1600圖像顆(ke)(ke)(ke)粒(li)(li)分析儀(yi)是以100個(ge)像素(su)為一個(ge)計(ji)量(liang)單位的(de)。


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