產品介紹

ZKFT-1600顯微鏡圖像顆粒分析儀

一、產品簡介

顯微鏡圖像顆粒分析儀 ZKFT-1600圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)顆(ke)粒(li)(li)(li)分(fen)析(xi)儀(yi)包括光(guang)學顯(xian)微鏡(jing)、數字CCD攝像(xiang)(xiang)頭、圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)處理與分(fen)析(xi)軟(ruan)件、電(dian)腦、打(da)印(yin)機等(deng)部分(fen)組成。它是將傳(chuan)(chuan)統的(de)(de)顯(xian)微測量(liang)方法(fa)與現代(dai)的(de)(de)圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)處理技術結合的(de)(de)產物(wu)。它的(de)(de)基本(ben)工(gong)作流(liu)程是通過專(zhuan)用數字攝像(xiang)(xiang)機將顯(xian)微鏡(jing)的(de)(de)圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)拍攝下來并傳(chuan)(chuan)輸到(dao)電(dian)腦中，通過專(zhuan)門的(de)(de)顆(ke)粒(li)(li)(li)圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)分(fen)析(xi)軟(ruan)件對顆(ke)粒(li)(li)(li)圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)進行(xing)處理與分(fen)析(xi)，從而得(de)到(dao)每(mei)一個(ge)顆(ke)粒(li)(li)(li)的(de)(de)粒(li)(li)(li)度和粒(li)(li)(li)形(xing)信息，再(zai)將每(mei)一個(ge)顆(ke)粒(li)(li)(li)的(de)(de)粒(li)(li)(li)度和粒(li)(li)(li)形(xing)信息進行(xing)統計，從而得(de)到(dao)粒(li)(li)(li)度（D50）及粒(li)(li)(li)度分(fen)布、平(ping)均長徑比及長徑比分(fen)布、平(ping)均圓形(xing)度及圓形(xing)度分(fen)布等(deng)結果。

ZKFT-1600直觀、形(xing)象、準(zhun)確特點(dian)，它(ta)(ta)是(shi)將微米級以上的(de)(de)(de)顆(ke)粒(li)(li)放大(da)幾十、數百(bai)乃(nai)至上千倍，將整(zheng)個顆(ke)粒(li)(li)形(xing)狀顯示在人們的(de)(de)(de)眼前，使(shi)人一目了然。它(ta)(ta)不僅能看到顆(ke)粒(li)(li)，還(huan)能通過“尺子"來量每(mei)一個顆(ke)粒(li)(li)的(de)(de)(de)大(da)小，并通過圖(tu)像處理技術得到所有顆(ke)粒(li)(li)的(de)(de)(de)直徑，進(jin)而得到粒(li)(li)度分(fen)布、平均長徑比以及長徑比分(fen)布等。ZKFT-1600為粉體材料(liao)的(de)(de)(de)科研、生(sheng)產和應用領域增添了一種直觀、簡(jian)便(bian)、準(zhun)確的(de)(de)(de)粒(li)(li)度粒(li)(li)形(xing)測試手段。

ZKFT-1600靜態(tai)圖(tu)像(xiang)顆(ke)粒分(fen)析(xi)儀還具有很多(duo)(duo)(duo)圖(tu)像(xiang)處理功能，包括自(zi)(zi)動拍(pai)攝(she)、自(zi)(zi)動分(fen)割、自(zi)(zi)動填(tian)充(chong)、批處理多(duo)(duo)(duo)幅圖(tu)像(xiang)、準確(que)性標定等。其中眾多(duo)(duo)(duo)的“自(zi)(zi)動"功能簡(jian)化了操作，提(ti)高了效(xiao)率；批處理多(duo)(duo)(duo)幅圖(tu)像(xiang)功能，克服了傳統的靜態(tai)圖(tu)像(xiang)顆(ke)粒分(fen)析(xi)儀僅能分(fen)析(xi)單(dan)幅圖(tu)像(xiang)，導致顆(ke)粒數太(tai)少，代表性不(bu)足(zu)，結果不(bu)準確(que)的問題。它可以拍(pai)攝(she)很多(duo)(duo)(duo)幅圖(tu)像(xiang)，對(dui)這些圖(tu)像(xiang)一(yi)幅一(yi)幅地處理，每一(yi)幅處理過的圖(tu)像(xiang)上的顆(ke)粒都(dou)匯集到一(yi)起，提(ti)高了代表性。

二、產品特點:

*出色的外(wai)觀設計(ji)，符合(he)人機工程學的結構(gou)設計(ji)

*機身一體化(hua)的設計，使產品長期保持(chi)優異穩(wen)定性能(neng)

*優(you)質的3WLED照明，穩定(ding)和超常使(shi)用壽命

*無限遠色差(cha)校正光學系統，普通(tong)光學校正系統，可(ke)滿足不(bu)同用戶的(de)需求

三、主要應用領域：（觀(guan)察粒(li)形(xing)、分析(xi)粒(li)度、監測大顆粒(li)）

• 磨料：如(ru)碳化(hua)硅、剛(gang)玉、金剛(gang)石(shi)(shi)、石(shi)(shi)榴石(shi)(shi)等。

• 電池(chi)材料：球形(xing)石(shi)墨粉(fen)等(deng)。

• 金(jin)屬(shu)粉：如球(qiu)形(xing)鋁(lv)粉、鉛錫合(he)金(jin)粉、其它霧化金(jin)屬(shu)粉。

• 非金屬粉(fen)：如玻璃珠、聚苯乙烯等。

• 針狀粉：如(ru)硅(gui)灰石(shi)等(deng)。

• 生(sheng)物制劑：如細胞。

• 食品：如牛奶、面粉等。

• 其他：如科研、教學等。

四、測試原理

• 標(biao)定(ding)(ding)方法(fa)：用(yong)(yong)顯微鏡專用(yong)(yong)標(biao)準刻(ke)度(du)尺(chi)直接標(biao)定(ding)(ding)每個(ge)像素(su)的尺(chi)寸，再根據每個(ge)顆(ke)粒(li)(li)圖像面積所占的像素(su)多少(shao)來度(du)量(liang)顆(ke)粒(li)(li)的大小，以微米為單位。

• 測試(shi)原理：通(tong)過對顆粒數量(liang)(liang)和每(mei)個顆粒所包含的像素數量(liang)(liang)的統(tong)計，計算出每(mei)個顆粒的等(deng)(deng)圓(yuan)面積(ji)和等(deng)(deng)球(qiu)體積(ji)，從而得到顆粒的等(deng)(deng)圓(yuan)面積(ji)直(zhi)徑、等(deng)(deng)球(qiu)體積(ji)直(zhi)徑以及長徑比等(deng)(deng)。為計算方便，ZKFT-1600圖(tu)像顆粒分析儀是以100個像素為一(yi)個計量(liang)(liang)單(dan)位的。