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產品(pin)詳細頁(ye)摩擦磨損試驗測量儀
- 產品型(xing)號:M-200A
- 更新時間:2024-07-17
- 產品介紹(shao):摩擦磨損試驗測量儀適用于塑料制品、橡膠制品、石墨板材或其他復合材料的滑動摩擦,磨損性能測試,也可對試驗中試樣的磨擦力、磨擦系數和磨損量進行測定。M-200型摩擦磨損試驗機主要由試驗主機及智能控制系統兩大部分構成,通過微機控制系統進行操作試驗,在試驗過程中同時可以顯示數值、扭矩、時間曲線,并可以隨意設定試驗次數,顯示當前試驗數值,設定時間及當前試驗時間等多種功能
- 在線留言 010-57223836/57223838
產品介紹
一、適用范圍及功能
符合標準:GB/ T 3960-2017 塑料滑動摩擦磨損試驗方法
GB/T 9141.8-1999 柔性石墨板材滑動摩擦系數測試方法
適用(yong)于塑料(liao)制品、橡(xiang)膠制品、石墨(mo)板(ban)材或其(qi)他復合材料(liao)的滑動摩擦(ca)(ca),磨損性能測試(shi),也可對試(shi)驗中試(shi)樣的磨擦(ca)(ca)力(li)、磨擦(ca)(ca)系(xi)數和磨損量進(jin)行測定。
本儀器(qi)(qi)融合了當前新的(de)智(zhi)能電路系統(tong)進(jin)行(xing)控制,并(bing)結(jie)合老式M-200摩擦磨損試驗(yan)機的(de)功能進(jin)行(xing)升級改造而成,本儀器(qi)(qi)具有測(ce)控精(jing)度(du)高,操作便捷等優勢,是科研院所、質檢機構、實驗(yan)室研究選的(de)試驗(yan)設備。
M-200型摩(mo)擦磨損試(shi)(shi)驗(yan)(yan)機(ji)(ji)(ji)主要(yao)由(you)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)主機(ji)(ji)(ji)及智能控(kong)制系(xi)統兩大部分構成,通過(guo)微機(ji)(ji)(ji)控(kong)制系(xi)統進行操(cao)作試(shi)(shi)驗(yan)(yan),在試(shi)(shi)驗(yan)(yan)過(guo)程中同時(shi)可(ke)以顯(xian)示數(shu)值(zhi)(zhi)、扭(niu)矩、時(shi)間(jian)曲(qu)(qu)線,并可(ke)以隨意設定試(shi)(shi)驗(yan)(yan)次數(shu),顯(xian)示當前(qian)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)數(shu)值(zhi)(zhi),設定時(shi)間(jian)及當前(qian)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)時(shi)間(jian)等多種功能,隨機(ji)(ji)(ji)配備(bei)彩色打印(yin)機(ji)(ji)(ji),可(ke)以打印(yin)出帶有曲(qu)(qu)線、表格數(shu)據等標準(zhun)要(yao)求的試(shi)(shi)驗(yan)(yan)報告。
二、功能特點:摩擦磨損試驗測量儀
1、試樣尺寸: 30mm×7mm×6mm
? 2、轉動速度: 0-200轉/分 (可調)
? 3、負 荷: 196N ± 0.1%(可增至392N)
? 4、摩擦環尺寸:¢40×10mm ,倒(dao)角(jiao)0.5×45°,外圓表面與(yu)內圓同心度(du)偏差小(xiao)于0.01
5、摩擦環材質:45號鋼,淬火,熱處理HRC40-45,外圓表面光潔度▼8
? 6、摩擦力矩: 0--10N·m
7、砝碼重量:4KG砝碼一件,1KG砝碼4件,可實現重量疊(die)加功(gong)能
摩擦磨損試驗測量儀
通過調(diao)樣(yang)霧(wu)(噴(pen)•嘴的(de)(de)(de)位(wei)(wei)(wei)置(zhi)(zhi):和(he)流(liu)速),使(shi)在(zai)4h內測(ce)站(zhan)的(de)(de)(de)大峰(feng)值(zhi)電流(liu)(每分(fen)鐘(zhong)記(ji)錄的(de)(de)(de)大值(zhi))的(de)(de)(de)均值(zhi)在(zai)100mA?120mA范圍(wei)內可(ke)以允(yun)許有(you)長30min的(de)(de)(de)泄漏電流(liu)確(que)立時間,且不包含(han)在(zai)校(xiao)定(ding)(ding)中。這(zhe)適用(yong)于(yu)所有(you)的(de)(de)(de)試(shi)驗(yan)(yan)位(wei)(wei)(wei)置(zhi)(zhi)。每•個(ge)試(shi)驗(yan)(yan)位(wei)(wei)(wei)鈴可(ke)以分(fen)別校(xiao)定(ding)(ding)。或另一(yi)種(zhong)方法(fa),可(ke)以在(zai)每一(yi)個(ge)試(shi)驗(yan)(yan)位(wei)(wei)(wei)置(zhi)(zhi)放置(zhi)(zhi)一(yi)個(ge)參考絕緣了-,使(shi)得所冇試(shi)驗(yan)(yan)位(wei)(wei)(wei)置(zhi)(zhi)同時并獨(du)、',地被校(xiao)定(ding)(ding)。如果試(shi)驗(yan)(yan)位(wei)(wei)(wei)置(zhi)(zhi)是單獨(du)校(xiao)定(ding)(ding),校(xiao)定(ding)(ding)結果應被重復,以確(que)保初始(shi)位(wei)(wei)(wei)置(zhi)(zhi)霧(wu)的(de)(de)(de)修IE不會影響鄰近的(de)(de)(de)試(shi)驗(yan)(yan)位(wei)(wei)(wei)置(zhi)(zhi)。相同設計的(de)(de)(de)試(shi)品應在(zai)一(yi)起評估。試(shi)驗(yan)(yan)報告中應注明和(he)記(ji)錄閃絡(luo)和(he)跳閘的(de)(de)(de)次數。
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