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產品詳細頁(ye)介電常數測試儀GCSTD
- 產(chan)品型號:GCSTD-D
- 更新時(shi)間:2024-07-17
- 產品介紹:介電常數測試儀GCSTD是一種*的測量介質損耗和電容容量的儀器,測量各種絕緣材料、絕緣套管、絕緣液體、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗和電容容量。
- 在線留言 010-57223836/57223838
產品介紹
GCSTD-D介電常數測試儀GCSTD
滿足標準:
GBT 1409-2006測量電(dian)氣絕緣(yuan)材(cai)料在(zai)工頻、音頻、高(gao)頻(包括米波波長在(zai)內)下(xia)電(dian)容
率和介質損(sun)耗因數(shu)的推薦方(fang)法
GB/T1693-2007硫化(hua)橡膠介(jie)電常數和介(jie)質損耗角(jiao)正切值的測定方法(fa)
ASTM D150/IEC 60250固體電(dian)絕緣材料(liao)的(恒(heng)久電(dian)介質)的交(jiao)流(liu)損耗特性(xing)和介電(dian)常數
的測試方法
介電常數測試儀GCSTD試驗方法:
接觸(chu)法:適用于厚度均勻、上下表面平整、光滑材料
非接觸法:適用(yong)于(yu)上下(xia)表(biao)面不(bu)平整、不(bu)光滑材料(liao)
電極類型:固定電極-測(ce)量電極φ38mm/φ50mm(標配(pei)電極1套,標配(pei)為38mm)
液體(ti)電(dian)極-液體(ti)容(rong)量15ml
粉體電極-根據樣(yang)品量(liang)可配專(zhuan)用電極
試樣類(lei)型:固體(ti)、液體(ti)、粉體(ti)、膏體(ti)/規則(ze)物或者不(bu)規則(ze)物
性能特(te)點:
測(ce)試頻率20H2~2MHz,10mHz步進
測(ce)試電平10mV~5V,1mV步進
基本準確度(du)0.1%
最高達200次/s的測量(liang)速度
320x240點陣大(da)型圖形(xing)LCD顯(xian)示
五位(wei)讀數(shu)分辨(bian)率
可(ke)測量22種(zhong)阻抗參數組合
四(si)種信號源(yuan)輸(shu)出(chu)阻(zu)抗
10點(dian)列表(biao)掃描測試功(gong)能
內部自帶直流(liu)偏置源
外置偏流源至40A(配置兩(liang)臺(tai)TH1776)(選件)
電(dian)(dian)壓或電(dian)(dian)流的自(zi)動電(dian)(dian)平調整(ALC)功能
V、1測試(shi)信號電平監視功能
圖形(xing)掃描分析功能
20組內(nei)部儀器設(she)定(ding)可供(gong)儲存/讀取
內(nei)建比較(jiao)器(qi),10檔分選及計(ji)數功能
多(duo)種通訊接口方便用(yong)戶聯(lian)機使用(yong)
2m/4m測試電纜擴展(選件)
中英文(wen)可(ke)選操作界(jie)面
可通過USB HOST 自動升級儀(yi)器(qi)工(gong)作程(cheng)序
測(ce)試材料(liao):
無源元(yuan)件:電(dian)容器(qi)、電(dian)感器(qi)、磁芯、電(dian)阻(zu)器(qi)、壓電(dian)器(qi)件、變壓器(qi)、芯片(pian)組件和網絡元(yuan)件
等的陽抗參(can)數評估(gu)和性能分析(xi)。
半導(dao)體元件:變(bian)容(rong)二極管(guan)的C-VDC特性;晶體管(guan)或集成電路的寄生參數(shu)分析
其它元件:印(yin)制電(dian)路板(ban)、繼(ji)電(dian)器(qi)、開關、電(dian)纜、電(dian)池等的阻抗評估
介質材料(liao)(liao):塑料(liao)(liao)、陶瓷和其它材料(liao)(liao)的介電常數和損(sun)耗角評(ping)估
磁(ci)性材料:鐵氧體、非晶(jing)體和(he)其它磁(ci)性材料的導磁(ci)率和(he)損耗角評估
半(ban)導體(ti)材料(liao):半(ban)導體(ti)材料(liao)的(de)介(jie)電常數、導電率(lv)和C-V特性(xing)
液晶(jing)材料(liao):液晶(jing)單(dan)元的介(jie)電常(chang)數、彈性(xing)常(chang)數等C-V特性(xing)
- 上一(yi)篇:GCSTD-CII工頻介電常數測量儀 GCSTD