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產品詳細頁(ye)
工頻介質介電常數損耗測試儀

工頻介質介電常數損耗測試儀

  • 產品(pin)型號:GCSTD-CII
  • 更新時(shi)間(jian):2024-07-17
  • 產(chan)品介紹:工頻介質介電常數損耗測試儀是一種*的測量介質損耗(tgδ)和電容容量(Cx)的儀器,測量各種絕緣材料、絕緣套管、絕緣液體、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗(tgδ)和電容容量(Cx)。具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓, 測試時間短等優點。
  • 在線留言 010-57223836/57223838

產品介紹

GCSTD-CII工頻介質介電常數損耗測試儀

滿足標準:

GB/T1409-2006 測量電(dian)氣(qi)絕緣材料在(zai)工頻、音(yin)頻、高(gao)頻下電(dian)容率和介質(zhi)損耗因數的推薦方法

GB/T 5654-2007 液體(ti)絕緣材料(liao) 相(xiang)對電容率(lv)、介質(zhi)損耗因(yin)數和直流電阻(zu)率(lv)的(de)測量

GB/T 21216-2007 絕緣液體 測量(liang)電導和電容確定介質損耗因(yin)數的試驗方法

GB/T 1693-2007 硫化(hua)橡(xiang)膠 介電常(chang)數(shu)和介質(zhi)損耗角(jiao)正切值的測定方法

GB/T 5594.4-1985__電子元器件結(jie)構(gou)陶(tao)瓷材料(liao)性能測(ce)試方法(fa)(fa)__介質損(sun)耗角正切值的測(ce)試方法(fa)(fa)

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一、產品概述

工頻介質介電常數損耗測試儀,是一種(zhong)*的(de)測量介質(zhi)損耗(hao)(hao)(tgδ)和(he)電(dian)容(rong)(rong)容(rong)(rong)量(Cx)的(de)儀(yi)器(qi)(qi)(qi),測量各(ge)種(zhong)絕緣材料(liao)、絕緣套管、絕緣液體、電(dian)力(li)電(dian)纜、電(dian)容(rong)(rong)器(qi)(qi)(qi)、互感器(qi)(qi)(qi)、變壓(ya)器(qi)(qi)(qi)等高(gao)(gao)壓(ya)設備的(de)介質(zhi)損耗(hao)(hao)(tgδ)和(he)電(dian)容(rong)(rong)容(rong)(rong)量(Cx)。具有操作簡(jian)單(dan)、中文(wen)顯示、打(da)印、使(shi)用方(fang)便(bian)、無需換算、自帶高(gao)(gao)壓(ya),抗干擾能(neng)力(li)強, 測試(shi)時間短(duan)等優點。

本測(ce)試(shi)儀采(cai)用變(bian)頻(pin)電源技術,利(li)用單片(pian)機和(he)電子技術進行自動頻(pin)率變(bian)換、模(mo)/數(shu)轉換和(he)數(shu)據運算,達到抗干擾能(neng)力(li)強、測(ce)試(shi)速度(du)快、精度(du)高、操作簡便的功(gong)能(neng)。

二、性能特點

1、儀器測量準(zhun)(zhun)確度高,可滿足油介損測量要求,因此只(zhi)需配備標(biao)準(zhun)(zhun)油杯(bei),和專用測試線即可實現(xian)油介損測量。

2、采用變頻技(ji)術來消(xiao)除現場50Hz工頻干擾(rao),即使在強電磁干擾(rao)的(de)環境下也能(neng)測得可(ke)靠的(de)數據。

3、過流保護功(gong)能,在試品短路或擊穿時儀器不受損壞(huai)。

4、內附(fu)標準(zhun)電容和(he)高(gao)壓電源,便(bian)于現(xian)場測(ce)試(shi),減少現(xian)場接線。

5、儀器采(cai)用(yong)大(da)屏幕液晶顯示(shi)器,測試過程通過漢字菜單提示(shi)既直觀(guan)又便(bian)于操作(zuo)。

三、技術指標

技術指標

1、試驗環境溫度:10℃~30℃(LCD液晶屏應避免長時(shi)間日照)

2、相(xiang)對濕度(du):20%~80%

3、供電電源:電壓(ya):220V±10%

4、外形尺寸:長*寬(kuan)*高(gao)=470mm*320mm*360mm

5、重量:16kg

6、輸出功率:1.5KVA

7、顯示分辨率:3位(wei)、4位(wei)(內部全是6位(wei))

8、測試(shi)方(fang)法:正接法、反接法、外接試(shi)驗電壓法

9、測量范(fan)圍:內(nei)接試驗(yan)電壓:

tgδ:99.9%

Cx :30 pF<Cx(10KV)<60000 pF

10KV  Cx<60000 pF

5KV   Cx<80000 pF

2.5KV  Cx<0.3uF

外接試驗電壓:

由外接試驗變壓器輸出功率而定(ding)

10、基(ji)本測量誤(wu)差:介質損耗(tgδ):1%±0.09%

電容容量(Cx):1.5%±1pF

11、分辨(bian)率(lv): tgδ:0.01%

Cx :0.1pF

12、儀(yi)器為升壓與測量一(yi)體化結構(gou),輸出(chu)電壓2.5KV~10KV五檔可調

13、試(shi)樣(yang)要求:直徑為50MM、100MM、38MM





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