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產品(pin)詳細頁工頻介質損耗及介電常數測定儀
- 產品型(xing)號:GCSTD-CII
- 更新時間:2024-07-17
- 產品介紹:工頻介質損耗及介電常數測定儀是一種*的測量介質損耗和電容容量的儀器,測量各種絕緣材料、絕緣套管、絕緣液體、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗和電容容量。具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓,抗擾能力強, 測試時間短等優點。
- 在線留言 010-57223836/57223838
產品介紹
產品概述
本儀(yi)器(qi)是(shi)一種(zhong)*的(de)測(ce)量介(jie)質損耗()的(de)儀(yi)器(qi),測(ce)量各種(zhong)絕緣材料、絕緣套管(guan)、絕緣液體、電(dian)力(li)(li)電(dian)纜、電(dian)容器(qi)、互感器(qi)、變壓(ya)(ya)器(qi)等(deng)高(gao)壓(ya)(ya)設備的(de)介(jie)質損耗。具有(you)操(cao)作簡單、中(zhong)文顯(xian)示、打印(yin)、使用方便、無需換算(suan)、自帶(dai)高(gao)壓(ya)(ya),抗擾能力(li)(li)強, 測(ce)試時(shi)間短等(deng)優點。
本(ben)測(ce)試儀采用(yong)變頻電源技術(shu),利(li)用(yong)單(dan)片機和(he)電子技術(shu)進行自(zi)動頻率變換(huan)、模/數轉(zhuan)換(huan)和(he)數據運算,達(da)到抗擾能力強、測(ce)試速度(du)快、精度(du)高、操作簡便的功能。
技術指標
1、試驗環境(jing)溫度:10℃~30℃(LCD液(ye)晶屏應(ying)避(bi)免長時間(jian)日照)
2、相對濕(shi)度:20%~80%
3、供電電源:電壓:220V±10%
4、外形尺寸:長*寬*高=470mm*320mm*360mm
5、重量:16kg
6、輸出功率:1.5KVA
7、顯示分辨率:3位(wei)、4位(wei)(內部全是(shi)6位(wei))
8、測試方法(fa)(fa)(fa):正接法(fa)(fa)(fa)、反接法(fa)(fa)(fa)、外接試驗電壓法(fa)(fa)(fa)
9、測量范圍(wei):內接試驗電壓:
tgδ:99.9%
Cx :50 pF<Cx(2.5KV)<0.3UF
2.5KV Cx<0.3uF
0.5KV Cx<1.5uF
外接試驗電壓:
由外接試驗變壓器輸出功(gong)率而定(ding)
10、基本測量誤差:介質(zhi)損(sun)耗(tgδ):1%±0.09%
電(dian)容(rong)容(rong)量(liang)(Cx):1.5%±1pF
11、分(fen)辨率: tgδ:0.01%
Cx :0.1pF
12、試樣要(yao)求:直徑為50MM、100MM、38MM
工頻介質損耗及介電常數測定儀
任何一種(zhong)潤濕(shi)劑:1質(zhi)量份。氯鉀:10質(zhi)量份。使(shi)用導電(dian)(dian)液時,電(dian)(dian)極(ji)接觸(chu)面(mian)應*潤濕(shi),并(bing)保持(chi)濕(shi)潤到試(shi)(shi)(shi)驗(yan)結束。導電(dian)(dian)銀(yin)涂料和(he)膠體石墨應在(zai)室溫下(xia)的(de)(de)(de)空氣中(zhong)(zhong)干(gan)(gan)燥,干(gan)(gan)燥膜的(de)(de)(de)表(biao)面(mian)電(dian)(dian)阻應低于(yu)100Q。清潔的(de)(de)(de)金屬作為接觸(chu)裝置(zhi),置(zhi)于(yu)電(dian)(dian)極(ji)上,接觸(chu)面(mian)積(ji)與電(dian)(dian)極(ji)的(de)(de)(de)尺寸應相同(tong),不能大(da)于(yu)電(dian)(dian)極(ji)面(mian)積(ji)。除(chu)使(shi)用液體類電(dian)(dian)極(ji)外,其(qi)他(ta)情況下(xia)和(he)使(shi)用其(qi)他(ta)的(de)(de)(de)電(dian)(dian)極(ji),在(zai)測(ce)試(shi)(shi)(shi)報告(gao)中(zhong)(zhong)應說(shuo)明金屬接觸(chu)裝置(zhi)的(de)(de)(de)成(cheng)分。除(chu)按6.5條規定的(de)(de)(de)內(nei)容試(shi)(shi)(shi)驗(yan)通氣袋產(chan)品外,其(qi)他(ta)產(chan)品在(zai)測(ce)試(shi)(shi)(shi)過程中(zhong)(zhong),產(chan)品表(biao)面(mian)不應變形。在(zai)測(ce)試(shi)(shi)(shi)中(zhong)(zhong)。
除另有規定外,產品應支(zhi)承于*緣(yuan)表(biao)面上
工頻介質損耗及介電常數測定儀
- 上一(yi)篇:GEST-126T多功能粉塵層電阻率測定儀