產品介紹

GCSTD-D 高低頻介電常數測試儀

滿足標準：

GBT 1409-2006測量電(dian)氣絕緣材料在工頻(pin)、音頻(pin)、高頻(pin)（包括米(mi)波(bo)(bo)波(bo)(bo)長(chang)在內(nei)）下電(dian)容(rong)

率和介質(zhi)損耗因數的推薦方(fang)法

GB／T1693-2007硫化橡膠介(jie)電(dian)常數和介(jie)質損(sun)耗角正(zheng)切值的測定方法

ASTM D150／IEC 60250固體電(dian)絕緣材料的(de)（恒久電(dian)介質(zhi)）的(de)交流損(sun)耗特性和介電(dian)常數

的測試方法

高低頻介電常數測試儀試驗方法：

接觸(chu)法：適(shi)用于(yu)厚(hou)度均勻、上下表面平整、光滑材料

非接觸(chu)法：適(shi)用于上下表面(mian)不平整、不光滑材料

電(dian)(dian)(dian)極(ji)類型：固(gu)定電(dian)(dian)(dian)極(ji)-測量(liang)電(dian)(dian)(dian)極(ji)φ38mm／φ50mm（標配(pei)電(dian)(dian)(dian)極(ji)1套，標配(pei)為38mm）

液體電極-液體容量15ml

粉體電極-根(gen)據樣品量可配專用電極

試樣類型：固體(ti)、液體(ti)、粉體(ti)、膏體(ti)／規則(ze)物或者不(bu)規則(ze)物

性能特點：

測試頻率20H2～2MHz，10mHz步進(jin)

測(ce)試電(dian)平10mV～5V，1mV步進

基本準確度0.1％

最高達(da)200次／s的測量速度(du)

320x240點陣大型(xing)圖形LCD顯示

五位讀數分辨率

可測量22種阻(zu)抗(kang)參數組合(he)

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置(zhi)偏流源至(zhi)40A（配置(zhi)兩臺TH1776）（選件(jian)）

電(dian)壓或電(dian)流的(de)自動(dong)電(dian)平調整（ALC）功(gong)能(neng)

V、1測試信(xin)號電平監視功(gong)能

圖形掃描分析功能

20組(zu)內部儀器(qi)設定可供儲存／讀取

內建比較器，10檔分(fen)選及(ji)計數功能

多種通訊接口(kou)方便(bian)用戶聯機使用

2m／4m測(ce)試電纜擴展（選(xuan)件）

中英文可選操作界面

可通(tong)過USB HOST 自動(dong)升級儀器工(gong)作(zuo)程序

測試材料：

無源元件(jian)：電容器(qi)、電感器(qi)、磁芯(xin)、電阻(zu)器(qi)、壓電器(qi)件(jian)、變(bian)壓器(qi)、芯(xin)片組(zu)件(jian)和網絡元件(jian)

等(deng)的陽(yang)抗參數評估和(he)性(xing)能分析(xi)。

半導體元件：變容二(er)極管(guan)的(de)C-VDC特性(xing)；晶體管(guan)或集成電路的(de)寄生參數分析

其它元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜(lan)、電池等(deng)的阻抗評估

介(jie)(jie)質材(cai)料(liao)(liao)(liao)：塑料(liao)(liao)(liao)、陶瓷和其它材(cai)料(liao)(liao)(liao)的介(jie)(jie)電常數和損耗角評估

磁(ci)性材(cai)料：鐵氧體(ti)、非晶體(ti)和(he)其它磁(ci)性材(cai)料的導磁(ci)率和(he)損耗(hao)角(jiao)評估(gu)

半導(dao)體(ti)材料：半導(dao)體(ti)材料的介電常數、導(dao)電率和C-V特(te)性(xing)

液晶材料：液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特(te)性