產品介紹

GCSTD-D高低頻介電常數測量儀

滿足標準：

GBT 1409-2006測量電(dian)氣(qi)絕緣材(cai)料在工頻、音頻、高頻（包括米波(bo)波(bo)長在內(nei)）下電(dian)容

率和介(jie)質損(sun)耗(hao)因(yin)數的推薦方(fang)法

GB／T1693-2007硫化橡(xiang)膠(jiao)介電常數和介質損耗角正切(qie)值的測定(ding)方法(fa)

ASTM D150／IEC 60250固體電絕緣材料的(de)（恒(heng)久電介質(zhi)）的(de)交(jiao)流損耗特性和介電常(chang)數

的測試方法

高低頻介電常數測量儀試驗方法：

接觸法：適用于厚度均(jun)勻、上下表面平整、光(guang)滑材料

非(fei)接觸法：適用于上下表面不平整、不光滑材料

電極(ji)類型：固定電極(ji)-測量電極(ji)φ38mm／φ50mm（標配電極(ji)1套，標配為38mm）

液(ye)體電(dian)極(ji)-液(ye)體容量(liang)15ml

粉體電極-根據(ju)樣品量可配專用電極

試(shi)樣類型：固體、液體、粉體、膏體／規則(ze)物或者不規則(ze)物

性能特點：

測試頻率20H2～2MHz，10mHz步進

測試電(dian)平10mV～5V，1mV步進

基本準確度0.1％

最高達200次／s的測量速度

320x240點陣大型圖(tu)形LCD顯(xian)示

五位讀數分辨率

可(ke)測量22種(zhong)阻(zu)抗參(can)數組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置偏流源至40A（配置兩臺TH1776）（選件(jian)）

電壓或電流的自動電平調整(zheng)（ALC）功能

V、1測(ce)試信號電平監(jian)視功能(neng)

圖形掃描分析功能

20組內(nei)部儀器設定可供(gong)儲存／讀取

內建(jian)比(bi)較器，10檔分選(xuan)及計數功能

多種通訊接口方便用戶(hu)聯機使用

2m／4m測試(shi)電(dian)纜擴展（選(xuan)件）

中英文可選操作界面

可通過(guo)USB HOST 自動升級儀器工(gong)作程序

測試材料：

無源元(yuan)(yuan)件(jian)：電(dian)容器、電(dian)感器、磁芯(xin)、電(dian)阻器、壓(ya)電(dian)器件(jian)、變壓(ya)器、芯(xin)片(pian)組件(jian)和網絡元(yuan)(yuan)件(jian)

等(deng)的陽抗參數(shu)評估和性(xing)能分析。

半導體(ti)元件：變容二(er)極(ji)管(guan)的C-VDC特性；晶體(ti)管(guan)或集成電路的寄生參數(shu)分析

其(qi)它(ta)元件(jian)：印制電(dian)(dian)(dian)路板(ban)、繼電(dian)(dian)(dian)器、開關、電(dian)(dian)(dian)纜(lan)、電(dian)(dian)(dian)池等(deng)的阻(zu)抗(kang)評估

介質材(cai)料(liao)(liao)：塑料(liao)(liao)、陶瓷和其它材(cai)料(liao)(liao)的(de)介電(dian)常數和損耗角評估(gu)

磁性材料(liao)：鐵(tie)氧(yang)體、非晶體和其它磁性材料(liao)的(de)導(dao)磁率(lv)和損耗角(jiao)評估

半(ban)導體材(cai)料：半(ban)導體材(cai)料的介電常(chang)數、導電率和C-V特性

液(ye)晶材(cai)料：液(ye)晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特性