產品介紹

GCSTD-D 高低頻介電常數測定儀

滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣(yuan)材料在工頻、音頻、高(gao)頻（包括米波波長在內）下電容

率和(he)介(jie)質損耗(hao)因數的推(tui)薦方法(fa)

GB／T1693-2007硫化(hua)橡膠(jiao)介電常數和介質損耗角正切值的測(ce)定(ding)方法

ASTM D150／IEC 60250固體電絕緣材料的（恒(heng)久電介質）的交流損(sun)耗特性和介電常(chang)數

的測試方法

高低頻介電常數測定儀試驗方法：

接觸法：適用于厚度均勻、上下表(biao)面(mian)平整、光滑(hua)材料

非(fei)接觸法：適用于上下表面不平整(zheng)、不光(guang)滑材料

電(dian)極(ji)類型：固(gu)定電(dian)極(ji)-測量電(dian)極(ji)φ38mm／φ50mm（標(biao)配電(dian)極(ji)1套(tao)，標(biao)配為38mm）

液體(ti)電極-液體(ti)容(rong)量(liang)15ml

粉(fen)體電極-根據樣(yang)品量可配專(zhuan)用電極

試樣類(lei)型(xing)：固體、液體、粉體、膏體／規則物(wu)或者不規則物(wu)

性能特點：

測(ce)試(shi)頻率20H2～2MHz，10mHz步進

測試電平10mV～5V，1mV步(bu)進

基本準確度0.1％

最高達200次／s的測量速度

320x240點(dian)陣大型圖(tu)形LCD顯(xian)示(shi)

五位讀數分辨率

可測量(liang)22種阻抗(kang)參數組(zu)合(he)

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外(wai)置偏流源至40A（配(pei)置兩臺(tai)TH1776）（選(xuan)件(jian)）

電壓(ya)或電流的自動電平調(diao)整（ALC）功能

V、1測試信(xin)號電平監視功能

圖形掃描分析功能

20組內部儀器設定可供儲(chu)存／讀取

內建比較器，10檔分(fen)選及(ji)計數功能

多種通訊接口方便用戶(hu)聯機使用

2m／4m測試電纜擴(kuo)展（選(xuan)件）

中英文可選操作界面

可通過USB HOST 自(zi)動升(sheng)級儀器工作程序

測試材料：

無(wu)源元件(jian)：電(dian)容器(qi)、電(dian)感器(qi)、磁芯、電(dian)阻器(qi)、壓電(dian)器(qi)件(jian)、變壓器(qi)、芯片組件(jian)和網(wang)絡元件(jian)

等的陽抗參數評估和性能分析。

半(ban)導體(ti)元(yuan)件：變容(rong)二(er)極(ji)管的C-VDC特性；晶體(ti)管或集成(cheng)電路的寄生參數分析

其它元件：印制電路板、繼電器、開關(guan)、電纜、電池等的(de)阻抗(kang)評(ping)估(gu)

介質材料(liao)：塑(su)料(liao)、陶瓷和其它(ta)材料(liao)的介電常數和損耗角評估

磁性材料(liao)：鐵(tie)氧(yang)體、非晶體和其它(ta)磁性材料(liao)的(de)導磁率(lv)和損耗角(jiao)評估

半導體材(cai)料：半導體材(cai)料的(de)介電常數、導電率和C-V特性

液晶材(cai)料：液晶單元的介電常(chang)數、彈性(xing)常(chang)數等C-V特性(xing)