產品介紹

GCSTD-D 高低頻介電常數試驗儀

滿足標準：

GBT 1409-2006測量電(dian)氣絕緣材(cai)料在工頻(pin)、音頻(pin)、高(gao)頻(pin)（包(bao)括米波(bo)波(bo)長(chang)在內(nei)）下電(dian)容(rong)

率(lv)和介質損(sun)耗(hao)因數的(de)推薦(jian)方法

GB／T1693-2007硫化橡膠介(jie)電常數和介(jie)質損耗角正(zheng)切值(zhi)的測定方法

ASTM D150／IEC 60250固體電(dian)絕緣材料的（恒久電(dian)介(jie)質(zhi)）的交流(liu)損耗(hao)特(te)性和介(jie)電(dian)常數

的測試方法

高低頻介電常數試驗儀試驗方法：

接(jie)觸法：適用于厚度均勻(yun)、上下表面平整(zheng)、光(guang)滑材(cai)料

非接觸法：適(shi)用于上下表面不平(ping)整(zheng)、不光(guang)滑材料

電極(ji)類型：固定電極(ji)-測(ce)量電極(ji)φ38mm／φ50mm（標配電極(ji)1套，標配為38mm）

液體電極(ji)-液體容量15ml

粉體電極-根據樣品量可配專用電極

試樣類型：固體、液體、粉體、膏體／規則物或者(zhe)不(bu)規則物

性能特點：

測試頻率20H2～2MHz，10mHz步進

測(ce)試電(dian)平10mV～5V，1mV步進

基本準確度0.1％

最(zui)高達200次(ci)／s的測(ce)量速度

320x240點陣大型圖(tu)形LCD顯示

五位讀數分辨率

可測量22種阻抗(kang)參數組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置(zhi)偏流源至40A（配置(zhi)兩臺TH1776）（選件）

電壓(ya)或電流的自動(dong)電平調(diao)整（ALC）功能

V、1測試信號(hao)電(dian)平監視功能

圖形掃描分析功能

20組內部儀器設定(ding)可供儲存／讀取

內(nei)建(jian)比較器，10檔分(fen)選及計數功能

多種通訊接口(kou)方便用戶聯機使用

2m／4m測試電纜擴展（選件）

中英文可選操作界面

可通過USB HOST 自動升級儀器工作程序

測試材料：

無源元件：電(dian)容器(qi)、電(dian)感器(qi)、磁(ci)芯(xin)、電(dian)阻器(qi)、壓電(dian)器(qi)件、變壓器(qi)、芯(xin)片組(zu)件和(he)網絡元件

等的陽抗(kang)參數評估(gu)和(he)性(xing)能分析。

半導體元件：變容二極(ji)管(guan)的(de)C-VDC特性；晶體管(guan)或(huo)集成電(dian)路的(de)寄生參數分析

其它元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估

介(jie)質材料：塑料、陶瓷和(he)其它材料的介(jie)電常數和(he)損耗角評估

磁性材料：鐵(tie)氧體(ti)、非晶體(ti)和其它磁性材料的導磁率(lv)和損耗角(jiao)評估(gu)

半(ban)導(dao)體材料(liao)：半(ban)導(dao)體材料(liao)的介電常數、導(dao)電率(lv)和(he)C-V特性

液(ye)晶材料：液(ye)晶單元(yuan)的介電常數、彈性常數等(deng)C-V特性