產品介紹

GCSTD-D塑料高低頻介電常數測量儀

滿足標準：

GBT 1409-2006測量(liang)電(dian)氣絕緣(yuan)材料在(zai)(zai)工頻(pin)、音頻(pin)、高頻(pin)（包括(kuo)米(mi)波(bo)波(bo)長在(zai)(zai)內）下電(dian)容(rong)

率和介質損耗因數的推薦方(fang)法

GB／T1693-2007硫(liu)化橡(xiang)膠介電常數和介質損(sun)耗角正切值的測定方法

ASTM D150／IEC 60250固體(ti)電絕緣材(cai)料(liao)的（恒久電介(jie)質(zhi)）的交(jiao)流損耗(hao)特(te)性和介(jie)電常數

的測試方法

塑料高低頻介電常數測量儀試驗方法：

接觸法(fa)：適用于厚度(du)均勻(yun)、上下表面平整、光滑材(cai)料

非接觸法：適用于上下(xia)表面不平整、不光滑材料

電(dian)(dian)極(ji)類型：固(gu)定電(dian)(dian)極(ji)-測(ce)量電(dian)(dian)極(ji)φ38mm／φ50mm（標配(pei)電(dian)(dian)極(ji)1套，標配(pei)為38mm）

液體電極-液體容量(liang)15ml

粉體電極-根據樣品量可配專用電極

試樣(yang)類型：固體、液(ye)體、粉體、膏體／規則物(wu)(wu)或者不規則物(wu)(wu)

性能特點：

測試(shi)頻率20H2～2MHz，10mHz步進

測試(shi)電平(ping)10mV～5V，1mV步進

基本準確度0.1％

最高達200次／s的測量速度

320x240點陣大型圖形LCD顯示(shi)

五位讀數分辨率

可測量22種(zhong)阻(zu)抗(kang)參數組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置偏流源(yuan)至40A（配置兩臺TH1776）（選(xuan)件）

電壓或電流的自(zi)動電平調整（ALC）功能

V、1測試信(xin)號電平監(jian)視(shi)功能

圖形掃描分析功能

20組內部儀器設定可供儲存(cun)／讀取

內建比較器，10檔分選(xuan)及計(ji)數功能

多種通訊接口方(fang)便用戶(hu)聯(lian)機使用

2m／4m測試電纜擴(kuo)展（選件）

中英文可選操作界面

可通過(guo)USB HOST 自動升級儀器工作程(cheng)序

測試材料：

無源元件(jian)：電容器(qi)、電感器(qi)、磁(ci)芯、電阻器(qi)、壓電器(qi)件(jian)、變壓器(qi)、芯片組件(jian)和網絡(luo)元件(jian)

等(deng)的陽抗參數評估和性能(neng)分析(xi)。

半導體元件：變容二極管的(de)C-VDC特性；晶體管或集(ji)成電路的(de)寄生參數分(fen)析

其(qi)它元件：印(yin)制(zhi)電(dian)路板、繼電(dian)器(qi)、開關、電(dian)纜、電(dian)池等的阻抗評估(gu)

介質材料：塑(su)料、陶(tao)瓷和(he)其它材料的介電常數和(he)損耗角評估

磁性材(cai)料：鐵氧體、非晶體和(he)其它磁性材(cai)料的導磁率和(he)損耗角評估(gu)

半導體(ti)材料：半導體(ti)材料的介電常數、導電率(lv)和C-V特(te)性

液(ye)晶材料(liao)：液(ye)晶單元的介電常數、彈(dan)性(xing)常數等C-V特性(xing)