產品介紹

GCSTD-D陶瓷高低頻介電常數測量儀

滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣(yuan)材料在工(gong)頻、音頻、高(gao)頻（包括米波波長(chang)在內）下(xia)電容

率和介質(zhi)損耗因(yin)數(shu)的(de)推薦方法

GB／T1693-2007硫化橡膠介(jie)電常數和介(jie)質損(sun)耗角正(zheng)切值的測(ce)定方法(fa)

ASTM D150／IEC 60250固體(ti)電(dian)絕(jue)緣材料的（恒(heng)久(jiu)電(dian)介質）的交流損(sun)耗特性(xing)和介電(dian)常(chang)數(shu)

的測試方法

陶瓷高低頻介電常數測量儀試驗方法：

接觸法(fa)：適用于厚度均勻、上下表面平整、光滑材料

非接觸法：適(shi)用于上下表(biao)面不(bu)平整、不(bu)光滑材料

電(dian)極類型(xing)：固定電(dian)極-測量電(dian)極φ38mm／φ50mm（標(biao)配電(dian)極1套，標(biao)配為(wei)38mm）

液體電極-液體容量15ml

粉(fen)體(ti)電(dian)極(ji)-根(gen)據樣品(pin)量(liang)可配(pei)專(zhuan)用電(dian)極(ji)

試(shi)樣類型：固體(ti)(ti)、液體(ti)(ti)、粉體(ti)(ti)、膏體(ti)(ti)／規則物(wu)或者不規則物(wu)

性能特點：

測試頻率(lv)20H2～2MHz，10mHz步進

測(ce)試電平10mV～5V，1mV步進

基本準確度0.1％

最高達200次／s的(de)測量(liang)速度

320x240點陣大(da)型圖(tu)形LCD顯示

五位讀數分辨率

可測量22種阻(zu)抗(kang)參(can)數組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置偏(pian)流源至(zhi)40A（配置兩臺TH1776）（選件(jian)）

電壓或(huo)電流的自(zi)動電平調整（ALC）功能

V、1測試信號電平監視功能

圖形掃描分析功能

20組內部(bu)儀器設定可供儲存／讀(du)取(qu)

內建比較器，10檔分選及計數功能

多種通訊接口方便(bian)用戶(hu)聯機使用

2m／4m測試電纜擴展（選件）

中英文可選操作界面

可通過USB HOST 自動升級儀器工作程序(xu)

測試材料：

無源元件：電(dian)(dian)容器(qi)(qi)、電(dian)(dian)感器(qi)(qi)、磁芯、電(dian)(dian)阻器(qi)(qi)、壓電(dian)(dian)器(qi)(qi)件、變(bian)壓器(qi)(qi)、芯片組件和網絡元件

等的陽抗參數評估和(he)性能分析。

半導體元件：變容二極管的C-VDC特性；晶體管或集成電路(lu)的寄生參數分(fen)析

其(qi)它元件：印制(zhi)電路板、繼電器、開關、電纜(lan)、電池等的(de)阻(zu)抗評估

介(jie)質材(cai)料(liao)：塑(su)料(liao)、陶瓷(ci)和(he)其(qi)它材(cai)料(liao)的介(jie)電常數和(he)損(sun)耗角評(ping)估

磁(ci)性材料：鐵氧體(ti)、非(fei)晶體(ti)和其它磁(ci)性材料的導磁(ci)率和損耗角評估(gu)

半(ban)導體(ti)材料：半(ban)導體(ti)材料的介電常數、導電率和C-V特性

液晶材(cai)料：液晶單(dan)元的介電常數、彈性(xing)常數等C-V特性(xing)