產品介紹

陶瓷高低頻介電常數測試儀

GCSTD-DII

一、滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣(qi)絕緣材(cai)料在(zai)工頻(pin)、音頻(pin)、高頻(pin)（包括米波波長在(zai)內）下電容(rong)率(lv)和介(jie)質損耗(hao)因數的推薦方法

GB/T1693-2007 硫化(hua)橡膠 介(jie)電(dian)常數和介(jie)質損耗角正(zheng)切(qie)值(zhi)的測定方法(fa)

ASTM D150/IEC 60250固體電絕(jue)緣材料的(de)(恒久電介質)的(de)交(jiao)流損耗特性(xing)和介電常數的(de)測試方法

二、陶瓷高低頻介電常數測試儀技術要求：

接觸法(fa)：適用(yong)于厚(hou)度(du)均勻(yun)、上下表面平整(zheng)、光滑材料

電(dian)極類型(xing)：固定電(dian)極-測量(liang)電(dian)極φ38mm

測試頻(pin)率：20HZ-5MHZ

測試電極：黃銅電極

測試環境：室溫

三、軟件功能：

* 1、測試頻率可以掃(sao)描進(jin)行(xing)測試

*2、測(ce)試頻率可以(yi)單點(dian)測(ce)試

*3、測(ce)試頻率(lv)可以多頻設置測(ce)試

4、測(ce)試(shi)速(su)(su)度模式：快速(su)(su)、中速(su)(su)、慢速(su)(su)

5、測試數(shu)據與曲線顯示(shi)：

*6、電(dian)阻率—測(ce)試頻率

*7、絕對(dui)介電常數--測試頻(pin)率

*8、相對介電(dian)常數--測(ce)試頻率

*9、相對介(jie)電常數虛部(bu)--測試(shi)頻(pin)率

*10、相對介電常數實部--測(ce)試頻率

*11、介質損耗--測試(shi)頻(pin)率

*12、電容值--測試頻(pin)率

四 、測試電橋參數

測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測試頻率 20 Hz～5MHz,10mHz步進(jin)

測試信號電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準確度 0.1%

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C 0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D 0.0001 ～ 9.9999

Q 0.0001 ～ 99999

θ -179.99°～ 179.99°

測量速度 快速: 200次(ci)/s（f﹥30kHz） ,100次(ci)/s（f﹥1kHz）

中速(su): 25次(ci)/s, 慢速(su): 5次(ci)/s

校準功能 開(kai)路(lu) / 短(duan)路(lu)點(dian)頻(pin)、掃頻(pin)清零，負(fu)載校準

等效方式 串(chuan)聯(lian)方式, 并聯(lian)方式

量程方式 自動, 保持

顯示方式 直讀, Δ, Δ%

觸發方式 內部(bu), 手(shou)動, 外部(bu), 總線

內部直流偏 電壓模式 -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進

置源 電流模式（內阻為50Ω） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進

比較器功能 10檔分選及計數功能

顯示器 320×240點(dian)陣圖形LCD顯示

存儲器 可保(bao)存20組儀器設定值(zhi)

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)

USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB（選件）