產品介紹

產品名稱：半導體粉末電阻率測試測定儀

產品型(xing)號：FTDZ-I

半導體粉末電阻率測試測定儀產品概述：

粉末(mo)電阻率(lv)試驗儀主(zhu)要(yao)用于(yu)測量粉末(mo)材(cai)料電阻率(lv)試驗的專用儀器.

由于粉末(mo)材(cai)料的密實度不同(tong),在(zai)松裝和振(zhen)實密度條(tiao)件(jian)下,所(suo)測試得到的數據是不同(tong)的,所(suo)以測試粉末(mo)電

阻,要(yao)求在(zai)規定(ding)的壓力條件下進(jin)行(xing)測試.便(bian)于進(jin)行(xing)有效數據的測試及對比(bi).

儀器(qi)由主機、測(ce)試(shi)架兩大部分組(zu)成(cheng)。主機包括高靈敏(min)的直流(liu)數字電壓表和(he)高穩定的直流(liu)恒流(liu)源(yuan)測(ce)量

試驗(yan)設置通過觸摸(mo)屏(ping)進行操作和設置，頁面布局合理，人性化(hua)設計，可(ke)對測(ce)試結果進行打印(yin)。

儀器具(ju)有測(ce)量精度高、穩定性(xing)好、結構(gou)緊湊、使用方便等(deng)特(te)點(dian)，符(fu)合(he)國(guo)際(ji)和國(guo)家標準的要求。

儀器(qi)適用于導體粉(fen)末(mo)、半導體粉(fen)末(mo)、炭素材料等行(xing)業，進行(xing)檢測(ce)測(ce)試設備(bei)。

儀器主要技術指標：

一、測量范圍：

測量半導電(dian)(dian)電(dian)(dian)阻(zu)率時： 電(dian)(dian)阻(zu)率10-6—105Ω-cm；分辯率10-8Ω-cm

測量其他(ta)（電(dian)(dian)(dian)線電(dian)(dian)(dian)纜）電(dian)(dian)(dian)阻時： 電(dian)(dian)(dian)阻10-4--2X105Ω，分辨率0.01uΩ

二、 電壓測量：

1．  量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V

2．  測量誤差  2mA檔±(0.5%讀(du)數(shu)+8字)；20mV—2V擋±(0.5%讀(du)數(shu)+2字)

3．  顯(xian)(xian)示4 1/2 位(wei)(wei)數字顯(xian)(xian)示0—19999具有(you)極性(xing)和過載自(zi)動顯(xian)(xian)示，小數點、單(dan)位(wei)(wei)自(zi)動顯(xian)(xian)示。

三、 恒流源：

1．  電流輸出(chu)： 10μA、100μA、1mA、10mA、100mA、0.5A、1A、10A

2.    電流誤差(cha)：±(0.5%讀數+2字)

四、 數據打印：

可對測(ce)試結(jie)果進(jin)行打印，顯(xian)示結(jie)果為(wei)：體積電阻率、電阻值

五、測量電極：

1、電極材質：銅

2、測量距離：10MM

六、粉末套筒：

1、內徑：16mm

2、行程：50 mm

七、粉末測試專用(yong)恒加載裝置及測試電(dian)極：

1、電極是雙柱型、立(li)式結構

2、加(jia)載機構：步進電極

3、加(jia)載方式(shi)：自動加(jia)載

4、負荷傳感(gan)器：10KN

5、負(fu)荷顯示(shi)方式：力值、壓強

6、負(fu)荷加(jia)載(zai):設定(ding)好的(de)負(fu)荷后,自(zi)動加(jia)載(zai)并恒負(fu)荷保(bao)持

7、試(shi)驗流程(cheng)：把被測(ce)試(shi)樣安(an)裝并(bing)固定(ding)(ding)好后(hou)，設定(ding)(ding)好要加載的(de)負荷和(he)保(bao)持時間，點擊開始后(hou)，自(zi)動(dong)加載，到達設定(ding)(ding)的(de)負荷后(hou)自(zi)動(dong)停止，到達設定(ding)(ding)的(de)時間后(hou)，自(zi)動(dong)返回(hui)初始位。

8、樣品量和電極尺寸(cun)，依據(ju)客戶要求協商確定。

9、套筒內經:16MM/30MM\