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產品詳細頁(ye)GCSTD高低頻介電常數測試儀
- 產品型號:GCSTD-DII
- 更(geng)新時間(jian):2024-07-17
- 產品介(jie)紹:GCSTD高低頻介電常數測試儀GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法高低頻介電常數測試儀GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數和介質損耗角正切值的測定方法 ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質)的交流損耗特性和介電常數的測試方法
- 在線留言 010-57223836/57223838
產品介紹
GCSTD高低頻介電常數測試儀
GCSTD-DII
一、滿足標準:
GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻(pin)(pin)、音頻(pin)(pin)、高(gao)頻(pin)(pin)(包括米(mi)波波長在內)下電容(rong)率和介(jie)質損耗(hao)因(yin)數(shu)的推薦方(fang)法
GB/T1693-2007 硫(liu)化橡膠 介電常數和介質損耗角(jiao)正切值的測定方法(fa)
ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣(yuan)材料的(de)(恒久電介(jie)質(zhi))的(de)交流損耗特性和介(jie)電常數的(de)測試方(fang)法
二、GCSTD高低頻介電常數測試儀技術要求:
接觸(chu)法:適用于(yu)厚度均勻(yun)、上下表面(mian)平(ping)整、光滑材料
電(dian)極類(lei)型:固定(ding)電(dian)極-測量電(dian)極φ38mm
測試頻率:20HZ-5MHZ
測試電極:黃銅電極
測試環境:室溫
三、軟件功能:
* 1、測試頻率可(ke)以掃描進行(xing)測試
*2、測試頻(pin)率可以單(dan)點測試
*3、測試(shi)頻率可以多頻設置測試(shi)
4、測試速度模式:快(kuai)速、中速、慢速
5、測試數(shu)據與曲線(xian)顯(xian)示:
*6、電阻(zu)率(lv)—測試頻率(lv)
*7、絕對介電常數(shu)--測試(shi)頻率
*8、相(xiang)對介電(dian)常數--測(ce)試頻率
*9、相對介電常數虛部--測試頻率(lv)
*10、相對介電常數實部(bu)--測(ce)試頻(pin)率
*11、介(jie)質損耗--測試頻率(lv)
*12、電容值--測試(shi)頻率
四 、測試電橋參數
測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR
測試頻率 20 Hz~5MHz,10mHz步進
測試信號電 f≤1MHz 10mV~5V,±(10%+10mV)
平 f>1MHz 10mV~1V,±(20%+10mV)
輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
基本準確度 0.1%
L 0.0001 uH ~ 9.9999kH
C 0.0001 pF ~ 9.9999F
R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ
顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ~ 99.999 S
D 0.0001 ~ 9.9999
Q 0.0001 ~ 99999
θ -179.99°~ 179.99°
測量速度 快(kuai)速(su): 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz)
中速: 25次/s, 慢(man)速: 5次/s
校準功能 開(kai)路 / 短路點頻、掃頻清(qing)零,負載校準
等效方式 串聯方式, 并聯方式
量程方式 自動, 保持
顯示方式 直讀, Δ, Δ%
觸發方式 內(nei)部(bu), 手(shou)動, 外(wai)部(bu), 總線
內部直流偏 電壓模式 -5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進(jin)
置源 電流模式(內阻為50Ω) -100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進
比較器功能 10檔分選及計數功(gong)能
顯示器 320×240點陣圖形LCD顯示
存儲器 可(ke)保存20組儀器設定(ding)值
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)
USB HOST(FAT16 and FAT32 support)
接口 LAN(LXI class C support)
RS232C
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