產品介紹

GCSTD介電常數及介質損耗測試儀

GCSTD-DII

一、滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材(cai)料在(zai)工頻(pin)(pin)、音頻(pin)(pin)、高頻(pin)(pin)（包(bao)括米波波長在(zai)內）下電容(rong)率和介(jie)質損耗因數(shu)的推薦方法

GB/T1693-2007 硫化橡膠 介(jie)電常數(shu)和介(jie)質損耗角(jiao)正切值(zhi)的測定方(fang)法

ASTM D150/IEC 60250固體電(dian)絕緣材料的(de)(恒久電(dian)介質)的(de)交流損耗特性和介電(dian)常數(shu)的(de)測試(shi)方法

二、GCSTD介電常數及介質損耗測試儀技術要求：

接觸法(fa)：適(shi)用于厚度均勻、上(shang)下表(biao)面平整(zheng)、光滑材料

電極類型：固(gu)定電極-測(ce)量(liang)電極φ38mm

測試頻(pin)率：20HZ-5MHZ

測試電極：黃銅電極

測試環境：室溫

三、軟件功能：

* 1、測(ce)試頻(pin)率可以掃(sao)描(miao)進行測(ce)試

*2、測試頻率可(ke)以單點(dian)測試

*3、測(ce)試(shi)頻率可(ke)以多頻設置(zhi)測(ce)試(shi)

4、測試速(su)度模式：快速(su)、中速(su)、慢速(su)

5、測試數據與曲線(xian)顯示(shi)：

*6、電阻率(lv)—測試(shi)頻率(lv)

*7、絕對(dui)介電常數(shu)--測試頻(pin)率

*8、相(xiang)對介電常(chang)數(shu)--測試頻率(lv)

*9、相對介電常數虛部--測試頻率

*10、相對介電常(chang)數實部--測試(shi)頻(pin)率

*11、介質損(sun)耗--測試頻率

*12、電容值--測試頻率(lv)

四 、測試電橋參數

測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測試頻率 20 Hz～5MHz,10mHz步進

測試信號電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準確度 0.1%

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C 0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D 0.0001 ～ 9.9999

Q 0.0001 ～ 99999

θ -179.99°～ 179.99°

測量速度 快速: 200次(ci)/s（f﹥30kHz） ,100次(ci)/s（f﹥1kHz）

中(zhong)速: 25次(ci)(ci)/s, 慢速: 5次(ci)(ci)/s

校準功能 開路 / 短路點頻、掃(sao)頻清零，負載(zai)校準

等效方式 串聯方式, 并聯方式

量程方式 自動, 保持

顯示方式 直讀, Δ, Δ%

觸發方式 內部, 手動, 外部, 總線

內部直流偏 電壓模式 -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進

置源 電流模式（內阻為50Ω） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進

比較器功能 10檔分選及計數功能

顯示器 320×240點陣(zhen)圖(tu)形LCD顯示

存儲器 可保存20組儀器(qi)設(she)定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)

USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB（選件）