產品介紹

高低頻介電常數試驗儀

GCSTD-DII

一、滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕(jue)緣材料在(zai)(zai)工頻、音頻、高頻（包括米波波長在(zai)(zai)內(nei)）下電容率和介質損耗(hao)因數的推(tui)薦方法

GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數和介質損耗角(jiao)正切值的測定方(fang)法(fa)

ASTM D150/IEC 60250固體電(dian)絕緣材料(liao)的(恒久電(dian)介質)的交流損耗(hao)特性和(he)介電(dian)常(chang)數的測試方法

二、高低頻介電常數試驗儀技術要求：

接觸(chu)法：適用(yong)于厚度(du)均勻、上(shang)下表(biao)面平(ping)整、光滑(hua)材料(liao)

電(dian)極類(lei)型：固定電(dian)極-測量電(dian)極φ38mm

測試頻率：20HZ-5MHZ

測試電極：黃銅電極

測試環境：室溫

三、軟件功能：

* 1、測(ce)試頻率(lv)可以掃描進行測(ce)試

*2、測試(shi)頻(pin)率可以單(dan)點(dian)測試(shi)

*3、測試頻率(lv)可以多頻設置測試

4、測試速(su)(su)度模式：快(kuai)速(su)(su)、中速(su)(su)、慢速(su)(su)

5、測試數據與(yu)曲(qu)線顯示：

*6、電阻(zu)率—測試頻率

*7、絕對(dui)介(jie)電常數--測(ce)試(shi)頻(pin)率

*8、相對介電常數--測試頻率

*9、相對介電常(chang)數虛部--測試頻率

*10、相(xiang)對介電常(chang)數實部--測(ce)試頻(pin)率(lv)

*11、介質(zhi)損耗--測(ce)試頻率

*12、電(dian)容值--測試頻率

四 、測試電橋參數

測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測試頻率 20 Hz～5MHz,10mHz步進

測試信號電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準確度 0.1%

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C 0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D 0.0001 ～ 9.9999

Q 0.0001 ～ 99999

θ -179.99°～ 179.99°

測量速度 快速(su): 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）

中速(su): 25次/s, 慢速(su): 5次/s

校準功能 開(kai)路 / 短路點頻、掃頻清零，負載校準

等效方式 串聯方式, 并聯方式

量程方式 自動, 保持

顯示方式 直讀, Δ, Δ%

觸發方式 內(nei)部, 手動(dong), 外(wai)部, 總線

內部直流偏 電壓模式 -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進

置源 電流模式（內阻為50Ω） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進

比較器功能 10檔(dang)分選及計數功能

顯示器 320×240點陣圖形(xing)LCD顯示

存儲器 可(ke)保存20組儀器(qi)設定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)

USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB（選件）