產品介紹

高低頻介電常數測定儀GCSTD

GCSTD-DII

一、滿足標準：

GBT 1409-2006測量電(dian)氣絕緣(yuan)材料(liao)在工頻、音(yin)頻、高頻（包括米波波長在內(nei)）下電(dian)容率和(he)介質損耗因數的推薦方(fang)法

GB/T1693-2007 硫(liu)化橡膠 介電常數和介質損耗角正切值的測定方法

ASTM D150/IEC 60250固(gu)體電絕(jue)緣材料的(恒久(jiu)電介(jie)(jie)質)的交流(liu)損耗特(te)性和介(jie)(jie)電常(chang)數的測試方法(fa)

二、高低頻介電常數測定儀GCSTD技術要求：

接觸法：適用于(yu)厚度均勻、上下表面平(ping)整、光(guang)滑材料(liao)

電(dian)極(ji)類(lei)型：固定(ding)電(dian)極(ji)-測(ce)量電(dian)極(ji)φ38mm

測(ce)試頻(pin)率：20HZ-5MHZ

測試電極：黃銅電極

測試環境：室溫

三、軟件功能：

* 1、測(ce)試頻(pin)率可以掃描(miao)進行測(ce)試

*2、測(ce)(ce)試(shi)頻率可以單點測(ce)(ce)試(shi)

*3、測(ce)試(shi)頻率可(ke)以多頻設置測(ce)試(shi)

4、測試(shi)速(su)度模(mo)式：快速(su)、中速(su)、慢(man)速(su)

5、測試(shi)數(shu)據與(yu)曲線顯(xian)示：

*6、電阻率—測試頻率

*7、絕對(dui)介電常數--測試頻率

*8、相(xiang)對介(jie)電常數--測試頻率(lv)

*9、相對(dui)介電常數虛部--測試頻率

*10、相對(dui)介電常數實部--測試頻率

*11、介質損耗--測試(shi)頻(pin)率(lv)

*12、電容值--測(ce)試頻率(lv)

四 、測試電橋參數

測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測試頻率 20 Hz～5MHz,10mHz步進

測試信號電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準確度 0.1%

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C 0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D 0.0001 ～ 9.9999

Q 0.0001 ～ 99999

θ -179.99°～ 179.99°

測量速度 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）

中速: 25次/s, 慢(man)速: 5次/s

校準功能 開路 / 短路點(dian)頻、掃(sao)頻清(qing)零，負(fu)載校(xiao)準(zhun)

等效方式 串聯方式, 并聯方式

量程方式 自動, 保持

顯示方式 直讀, Δ, Δ%

觸發方式 內(nei)部(bu), 手動, 外部(bu), 總線

內部直流偏 電壓模式 -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進

置源 電流模式（內阻為50Ω） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進

比較器功能 10檔分選(xuan)及(ji)計(ji)數(shu)功能

顯示器 320×240點(dian)陣圖(tu)形LCD顯示

存儲器 可(ke)保存20組儀器設定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)

USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB（選件）