產品介紹

四探針半導體粉末電阻率測量儀（四探針法）

產品名稱：四探針半導體粉末電阻率測量儀（四探針法）

產品型號：FTDZS-I

參考標準：YS T 587.6-2006 炭陽(yang)極(ji)用煅(duan)后石(shi)油焦檢測(ce)方(fang)法第(di)6 部分：粉末(mo)電阻率的測(ce)定.pdf

GB/T 24525-2009 炭素(su)材料電阻率測定(ding)方法(fa)

GBT 30835-2014《鋰(li)離子(zi)電池用炭復合磷酸(suan)鐵鋰(li)正極材料》中關于粉末電導(dao)率的(de)測定方法中用于仲裁方法的(de)四探(tan)針法要求(qiu)制(zhi)作

產品概述：

粉(fen)(fen)末電阻(zu)率試驗(yan)儀主要(yao)用于測量(liang)粉(fen)(fen)末材料電阻(zu)率試驗(yan)的(de)專用儀器.

由于粉末(mo)材料(liao)的(de)(de)密實(shi)(shi)度(du)不(bu)同(tong),在松裝(zhuang)和振實(shi)(shi)密度(du)條件下(xia),所(suo)測試(shi)得到的(de)(de)數據是不(bu)同(tong)的(de)(de),所(suo)以測試(shi)粉末(mo)電(dian)

阻,要(yao)求在規(gui)定的壓力條件下進行測試.便于進行有效數據的測試及對比.

儀器(qi)由主機(ji)、測試架兩(liang)大(da)部分組(zu)成(cheng)。主機(ji)包括(kuo)高(gao)靈敏(min)的直流數(shu)字(zi)電壓表和高(gao)穩定的直流恒流源(yuan)測量(liang)

試驗設(she)(she)(she)置(zhi)通過觸(chu)摸屏(ping)進(jin)行操作和(he)設(she)(she)(she)置(zhi)，頁面布局合理，人(ren)性化設(she)(she)(she)計，可對測試結果進(jin)行打(da)印(yin)。

儀器具有測量精度高(gao)、穩定性好、結構(gou)緊(jin)湊、使(shi)用方便等特(te)點(dian)，符(fu)合國際(ji)和國家標(biao)準的要求。

儀器適(shi)用(yong)于導(dao)體粉末(mo)、半導(dao)體粉末(mo)、炭素材料等(deng)行業，進行檢(jian)測(ce)測(ce)試(shi)設備。

儀器主要技術指標：

一、測量范圍：

測量半導電(dian)(dian)電(dian)(dian)阻率(lv)時： 電(dian)(dian)阻率(lv)10-5--105Ω-cm；分辯率(lv)10-6Ω-cm

測量(liang)其他（電(dian)線電(dian)纜）電(dian)阻(zu)時： 電(dian)阻(zu)10-4--2X105Ω，分辨(bian)率1uΩ

二、 電壓測量：

1．  量(liang)程 2 mV、20 mV、200 mV、2V

2．  測量誤差  2mA檔±(0.5%讀數(shu)+8字)；20mV—2V擋±(0.5%讀數(shu)+2字)

3．  顯(xian)示4 1/2 位(wei)數(shu)字顯(xian)示0—19999具有極性(xing)和過載自動顯(xian)示，小數(shu)點、單位(wei)自動顯(xian)示。

三、 恒流源：

1．  電(dian)流輸出：1μA 、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA．

2.    電流誤差：±(0.5%讀數+2字)

四、 測量電極：

1、測量電(dian)極(ji)：四探針(zhen)

2、探針間距：1MM

3、電極材質：鎢棒

4、壓片直徑：2cm 面(mian)積3.142cm^2

5、粉末(mo)試樣量：2.501g--2.5099g

五、加載裝置：

1、加(jia)載(zai)電極(ji)1：手(shou)動加(jia)載(zai)

2、加載(zai)電極2：自動加載(zai)

3、傳感(gan)器量程：10KN