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電壓擊穿試驗儀,電阻率測試儀,介電常數測試儀,漏電起痕試驗儀,耐電弧試驗儀、介電溫譜測量系統、熱刺激電流測量系統
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產(chan)品詳細頁
新款DRD系列電弱點測量儀

新款DRD系列電弱點測量儀

  • 產品型號:GCDRD-5KV
  • 更新時間:2024-08-07
  • 產品介紹:新款DRD系列電弱點測量儀-是根據GB/T 13542-92、IEC 60674-2:1988 電氣用塑料薄膜標準要求設計的高壓試驗裝置。主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下每平方米的擊穿點數。本機采用計算機控制,可對試驗過程中的各種數據進行快速、準確的采集、處理,并可存取、顯示、打印.
  • 在線留言 010-57223836/57223838

產品介紹

新款DRD系列電弱點測量儀

GCDRD-5KV

執(zhi)行(xing)標準:GB_T 13542.2-2009 IEC 60674-2:1988-電氣絕(jue)緣用(yong)薄膜(mo) 第2部分試驗方法

產品用途:

新款DRD系列電弱點測量儀-該儀器主(zhu)要(yao)用于電(dian)氣用聚(ju)(ju)氨脂薄膜(mo)(mo)、塑料薄膜(mo)(mo)、聚(ju)(ju)丙稀薄膜(mo)(mo)等絕緣材料在給定直(zhi)流電(dian)壓(ya)下自動升(sheng)壓(ya)測定每平方米的擊穿點數。

本儀器方式為微(wei)機控制,卷(juan)膜移動(dong)速度可設定(ding),按照設定(ding)的(de)(de)升壓(ya)速率升壓(ya),達(da)到(dao)設定(ding)的(de)(de)電壓(ya)后,實時(shi)記錄當前的(de)(de)電壓(ya)值和電流值,并能(neng)夠實時(shi)記錄當前的(de)(de)擊穿點,試驗結束后自(zi)動(dong)歸零,自(zi)動(dong)統計電弱點數、電弱線數,自(zi)動(dong)計算(suan)每平方米的(de)(de)電弱點數。

本儀器(qi)自動化程度高,操作簡(jian)單(dan)、安(an)裝卷(juan)膜方便(bian)(bian)、落地式(shi)結(jie)構方便(bian)(bian)操作。

結構組成:

1、升(sheng)壓(ya)(ya)(ya)部(bu)件:由調壓(ya)(ya)(ya)器和(he)高壓(ya)(ya)(ya)變壓(ya)(ya)(ya)器組成0~5KV的(de)升(sheng)壓(ya)(ya)(ya)部(bu)分。

2、動 部 件:通過調壓(ya)(ya)裝置勻速升壓(ya)(ya)到設定(ding)的電壓(ya)(ya)值。

3、檢測(ce)(ce)部件:由集成電路組成的測(ce)(ce)量電路,實時檢測(ce)(ce)測(ce)(ce)量數據(ju)傳給計算機。

4、計算(suan)機軟件:通過智(zhi)能電(dian)路把由檢測(ce)設(she)(she)備采(cai)集(ji)的(de)測(ce)控信號(hao)傳給計算(suan)機。計算(suan)機根據采(cai)集(ji)的(de)信息(xi)控制設(she)(she)備運行并(bing)處(chu)理試驗結果。

5、收卷放卷:固定卷膜并按照設定的速(su)度旋轉運動

設備工作原理:

本(ben)測(ce)(ce)試(shi)儀試(shi)驗電(dian)壓(ya)是(shi)0-5KV直流電(dian)壓(ya),其波動(dong)為±1%。測(ce)(ce)試(shi)儀在試(shi)樣弱點擊(ji)穿(chuan)后約(yue)0.1s內使電(dian)壓(ya)回(hui)升到(dao)原來設定的電(dian)壓(ya)。銅輥(gun)為下電(dian)極,導電(dian)橡膠(jiao)為上電(dian)極。薄膜以2m-5m /min的速度移動(dong),薄膜弱點時擊(ji)穿(chuan),擊(ji)穿(chuan)點自(zi)(zi)動(dong)累(lei)積計數(shu)。膜移動(dong)以平方(fang)數(shu)自(zi)(zi)動(dong)計數(shu)。

優勢特點:

1、操作簡(jian)單:放卷收(shou)卷固(gu)定后(hou),點(dian)開始(shi)自動(dong)測試

2、動態顯(xian)示:在薄膜擊穿后(hou),同步動態顯(xian)示曲線,直觀可視

3、安裝方便:把(ba)模(mo)卷放(fang)入氣漲(zhang)軸,通氣自動(dong)固定

4、張力可調:同能(neng)實時調節收卷(juan)、放卷(juan)的張力

5、多種模式:測(ce)試面積/測(ce)試長度/測(ce)試時間

6、擊穿(chuan)點(dian)(dian)(dian)判定:實(shi)時記錄電弱點(dian)(dian)(dian)與測試長(chang)度(du)的數(shu)據,可(ke)以統(tong)計查詢電弱點(dian)(dian)(dian)之間的長(chang)度(du)

7、自動(dong)存儲(chu):試驗介(jie)紹后(hou)自動(dong)彈(dan)窗提示存儲(chu)數(shu)據

8、智能(neng)自動:本機智能(neng)化(hua)、自動化(hua)程度高,無需專(zhuan)業培訓,即可操作


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