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產(chan)品詳細(xi)頁
新款DRD系列電弱點測定儀

新款DRD系列電弱點測定儀

  • 產(chan)品型(xing)號:DRD-10
  • 更新時間:2024-08-05
  • 產品介紹:新款DRD系列電弱點測定儀是根據GB/T 13542-92、IEC 60674-2:1988 電氣用塑料薄膜標準要求設計的高壓試驗裝置。主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下每平方米的擊穿點數。本機采用計算機控制,可對試驗過程中的各種數據進行快速、準確的采集、處理,并可存取、顯示、打印.
  • 在線留言 010-57223836/57223838

產品介紹

新款DRD系列電弱點測定儀

DRD-10

•執行(xing)標準:GB_T 13542.2-2009 IEC 60674-2:1988-電(dian)氣(qi)絕(jue)緣(yuan)用薄膜 第2部分試驗方法(fa)

產品用途:

新款DRD系列電弱點測定儀-該(gai)儀(yi)器主要用(yong)于電(dian)氣用(yong)聚氨脂薄膜(mo)、塑料(liao)薄膜(mo)、聚丙稀薄膜(mo)等絕(jue)緣材(cai)料(liao)在給定(ding)直(zhi)流電(dian)壓下自動升壓測定(ding)每(mei)平方米的擊穿點數。

本儀器方(fang)式為微機(ji)控制,卷(juan)膜移動(dong)速度可設定,按照設定的(de)(de)(de)升壓速率(lv)升壓,達到(dao)設定的(de)(de)(de)電(dian)壓后,實時(shi)記錄當前(qian)的(de)(de)(de)電(dian)壓值和電(dian)流值,并(bing)能夠實時(shi)記錄當前(qian)的(de)(de)(de)擊穿點(dian),試驗結束后自動(dong)歸(gui)零,自動(dong)統(tong)計電(dian)弱點(dian)數(shu)(shu)、電(dian)弱線數(shu)(shu),自動(dong)計算每平方(fang)米的(de)(de)(de)電(dian)弱點(dian)數(shu)(shu)。

本儀器自動化程(cheng)度高(gao),操(cao)作(zuo)(zuo)簡單、安裝卷膜方便(bian)、落地(di)式結(jie)構方便(bian)操(cao)作(zuo)(zuo)。

結構組成:

1、升壓(ya)(ya)部件:由調壓(ya)(ya)器和高壓(ya)(ya)變(bian)壓(ya)(ya)器組成0~10KV的升壓(ya)(ya)部分。

2、動 部(bu) 件:通過調(diao)壓裝置(zhi)勻速升壓到設定(ding)的(de)電壓值。

3、檢測(ce)部件:由集成電路(lu)組成的(de)測(ce)量(liang)電路(lu),實時檢測(ce)測(ce)量(liang)數(shu)據(ju)傳給計算機。

4、計(ji)算(suan)機(ji)軟件:通過(guo)智(zhi)能電(dian)路把由(you)檢測(ce)設備采(cai)集(ji)的測(ce)控信號傳給(gei)計(ji)算(suan)機(ji)。計(ji)算(suan)機(ji)根(gen)據采(cai)集(ji)的信息控制設備運行并處理試驗(yan)結果。

5、收卷放(fang)卷:固定卷膜并按照設定的(de)速度旋轉運動

設備工作原理:

本測(ce)試(shi)儀試(shi)驗電(dian)壓是0-10KV直流(liu)電(dian)壓,其波動為(wei)±1%。測(ce)試(shi)儀在試(shi)樣弱(ruo)點擊穿(chuan)后約0.1s內使電(dian)壓回升到(dao)原來設定(ding)的電(dian)壓。銅(tong)輥為(wei)下電(dian)極(ji)(ji),導電(dian)橡膠為(wei)上(shang)電(dian)極(ji)(ji)。薄(bo)膜(mo)(mo)以(yi)2m-5m /min的速度移動,薄(bo)膜(mo)(mo)弱(ruo)點時擊穿(chuan),擊穿(chuan)點自(zi)動累積計數(shu)。膜(mo)(mo)移動以(yi)平方數(shu)自(zi)動計數(shu)。

優勢特點:

1、操作(zuo)簡單:放卷(juan)收(shou)卷(juan)固定后,點開始(shi)自動測試

2、動態(tai)顯(xian)示(shi):在薄(bo)膜擊(ji)穿后,同步(bu)動態(tai)顯(xian)示(shi)曲線,直觀可視

3、安(an)裝方便:把模(mo)卷放入氣漲(zhang)軸,通氣自動固定

4、張(zhang)力可調(diao):同能實時調(diao)節收卷、放卷的張(zhang)力

5、多種模式:測試面積/測試長度/測試時(shi)間(jian)

6、擊穿(chuan)點判定:實(shi)時(shi)記錄電弱點與(yu)測試長度的(de)數據(ju),可以(yi)統計查詢電弱點之間(jian)的(de)長度

7、自(zi)動(dong)存儲:試驗(yan)介紹后(hou)自(zi)動(dong)彈(dan)窗(chuang)提示存儲數據

8、智(zhi)能自動:本機智(zhi)能化、自動化程(cheng)度高,無需專業培(pei)訓(xun),即(ji)可操作



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