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新款DRD系列薄膜電弱點試驗儀
- 產品型號(hao):GCDRD-5KV
- 更(geng)新時間:2024-08-15
- 產品介(jie)紹(shao):新款DRD系列薄膜電弱點試驗儀-本儀器方式為微機控制,卷膜移動速度可設定,按照設定的升壓速率升壓,達到設定的電壓后,實時記錄當前的電壓值和電流值,并能夠實時記錄當前的擊穿點,試驗結束后自動歸零,自動統計電弱點數、電弱線數,自動計算每平方米的電弱點數。本儀器自動化程度高,操作簡單、安裝卷膜方便、落地式結構方便操作。
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產品介紹
新款DRD系列薄膜電弱點試驗儀
GCDRD-5KV
執行標準:GB_T 13542.2-2009 IEC 60674-2:1988-電氣絕緣用薄膜(mo) 第2部(bu)分(fen)試(shi)驗(yan)方法(fa)
產品用途:
新款DRD系列薄膜電弱點試驗儀-該儀(yi)器主要用(yong)于電氣用(yong)聚(ju)氨脂薄(bo)膜、塑料(liao)薄(bo)膜、聚(ju)丙稀薄(bo)膜等絕緣材(cai)料(liao)在給定(ding)直(zhi)流電壓下(xia)自動升壓測定(ding)每(mei)平方米的(de)擊穿點數。
本(ben)儀器方式為微(wei)機控制,卷膜移動速(su)(su)度(du)可(ke)設(she)定,按照設(she)定的(de)(de)升壓(ya)(ya)速(su)(su)率升壓(ya)(ya),達到設(she)定的(de)(de)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)后(hou),實時(shi)記(ji)錄當前(qian)的(de)(de)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)值和電(dian)(dian)流(liu)值,并能夠(gou)實時(shi)記(ji)錄當前(qian)的(de)(de)擊穿點,試驗結束后(hou)自動歸零(ling),自動統計(ji)電(dian)(dian)弱點數、電(dian)(dian)弱線(xian)數,自動計(ji)算每平方米的(de)(de)電(dian)(dian)弱點數。
本儀(yi)器自動化程度高(gao),操作簡(jian)單、安裝卷(juan)膜方(fang)便、落地式(shi)結構方(fang)便操作。
結構組成:
1、升壓(ya)(ya)(ya)部件:由(you)調壓(ya)(ya)(ya)器(qi)和高壓(ya)(ya)(ya)變壓(ya)(ya)(ya)器(qi)組(zu)成0~5KV的升壓(ya)(ya)(ya)部分。
2、動 部 件(jian):通過(guo)調壓(ya)裝置勻速(su)升壓(ya)到設定的電壓(ya)值。
3、檢(jian)測部件:由集成電路(lu)組成的測量電路(lu),實時檢(jian)測測量數(shu)據傳給計算機(ji)。
4、計算機軟件(jian):通過智能電路把(ba)由檢(jian)測(ce)設(she)備(bei)采(cai)集(ji)的測(ce)控信號傳(chuan)給計算機。計算機根據(ju)采(cai)集(ji)的信息控制設(she)備(bei)運行并處理試驗結果。
5、收卷放卷:固定卷膜并按照設定的速度旋轉運動
設備工作原理:
本測(ce)試(shi)儀試(shi)驗電(dian)(dian)(dian)壓是0-5KV直流電(dian)(dian)(dian)壓,其波動(dong)為(wei)±1%。測(ce)試(shi)儀在試(shi)樣(yang)弱點(dian)擊(ji)穿(chuan)(chuan)后約0.1s內使電(dian)(dian)(dian)壓回升(sheng)到(dao)原來設定的(de)電(dian)(dian)(dian)壓。銅(tong)輥(gun)為(wei)下(xia)電(dian)(dian)(dian)極,導電(dian)(dian)(dian)橡膠為(wei)上電(dian)(dian)(dian)極。薄(bo)膜以2m-5m /min的(de)速度移動(dong),薄(bo)膜弱點(dian)時擊(ji)穿(chuan)(chuan),擊(ji)穿(chuan)(chuan)點(dian)自(zi)動(dong)累積計數。膜移動(dong)以平方數自(zi)動(dong)計數。
優勢特點:
1、操作簡單:放卷收卷固定后,點開始自動(dong)測試
2、動(dong)態(tai)顯(xian)示:在薄(bo)膜擊穿后,同步動(dong)態(tai)顯(xian)示曲線,直觀可視
3、安裝方便:把(ba)模卷放入氣(qi)漲軸,通氣(qi)自動固定(ding)
4、張力可調:同能實時調節收(shou)卷、放卷的張力
5、多種模(mo)式:測(ce)試(shi)面積(ji)/測(ce)試(shi)長度(du)/測(ce)試(shi)時(shi)間
6、擊(ji)穿點判定(ding):實時記(ji)錄電(dian)弱點與測(ce)試長度(du)(du)的(de)數據,可以統計查(cha)詢電(dian)弱點之間的(de)長度(du)(du)
7、自(zi)動存(cun)(cun)儲(chu):試(shi)驗介紹后自(zi)動彈(dan)窗提示(shi)存(cun)(cun)儲(chu)數(shu)據
8、智能(neng)自(zi)動:本機智能(neng)化、自(zi)動化程度高,無需專(zhuan)業培(pei)訓,即可操作
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