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產品詳細頁
新款DRD系列薄膜電弱點測試儀

新款DRD系列薄膜電弱點測試儀

  • 產(chan)品(pin)型號:GCDRD-5KV
  • 更新時(shi)間:2024-08-07
  • 產品介紹:新款DRD系列薄膜電弱點測試儀-本儀器方式為微機控制,卷膜移動速度可設定,按照設定的升壓速率升壓,達到設定的電壓后,實時記錄當前的電壓值和電流值,并能夠實時記錄當前的擊穿點,試驗結束后自動歸零,自動統計電弱點數、電弱線數,自動計算每平方米的電弱點數。
    本儀器自動化程度高,操作簡單、安裝卷膜方便、落地式結構方便操作。
  • 在線留言 010-57223836/57223838

產品介紹

新款DRD系列薄膜電弱點測試儀

GCDRD-5KV

執行標準(zhun):GB_T 13542.2-2009 IEC 60674-2:1988-電氣絕緣用薄(bo)膜 第2部分(fen)試驗方法

產品用途:

新款DRD系列薄膜電弱點測試儀-該儀器主(zhu)要用(yong)于(yu)電氣用(yong)聚氨脂薄膜(mo)、塑料薄膜(mo)、聚丙稀(xi)薄膜(mo)等絕(jue)緣材(cai)料在給定直流電壓下自(zi)動升壓測(ce)定每平(ping)方(fang)米的擊穿點數(shu)。

本儀器方式為微(wei)機(ji)控(kong)制,卷膜移動(dong)速度可設定(ding)(ding),按(an)照設定(ding)(ding)的升(sheng)壓(ya)(ya)速率升(sheng)壓(ya)(ya),達到(dao)設定(ding)(ding)的電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)后,實(shi)時記(ji)錄(lu)當(dang)前的電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)值和電(dian)(dian)(dian)流值,并(bing)能夠(gou)實(shi)時記(ji)錄(lu)當(dang)前的擊(ji)穿點,試驗(yan)結束后自(zi)動(dong)歸零(ling),自(zi)動(dong)統計電(dian)(dian)(dian)弱(ruo)點數(shu)(shu)、電(dian)(dian)(dian)弱(ruo)線數(shu)(shu),自(zi)動(dong)計算(suan)每平方米(mi)的電(dian)(dian)(dian)弱(ruo)點數(shu)(shu)。

本儀器(qi)自動化程(cheng)度高,操作簡(jian)單(dan)、安(an)裝卷膜(mo)方便、落地式(shi)結構方便操作。

結構組成:

1、升壓(ya)部件:由調壓(ya)器(qi)和高壓(ya)變壓(ya)器(qi)組成0~5KV的升壓(ya)部分。

2、動 部(bu) 件:通過調壓(ya)裝置勻速升(sheng)壓(ya)到設定(ding)的電壓(ya)值。

3、檢測(ce)部(bu)件:由集成電(dian)路(lu)組成的測(ce)量(liang)電(dian)路(lu),實(shi)時(shi)檢測(ce)測(ce)量(liang)數據傳給計算機。

4、計(ji)算(suan)(suan)機軟件:通過(guo)智能電路(lu)把由檢測設備采集的測控信號傳給計(ji)算(suan)(suan)機。計(ji)算(suan)(suan)機根據采集的信息控制設備運行并處(chu)理試驗結(jie)果。

5、收卷(juan)放卷(juan):固定卷(juan)膜(mo)并按照設定的速度旋轉運動

設備工作原理:

本測試儀試驗(yan)電壓是0-5KV直流電壓,其(qi)波動(dong)為±1%。測試儀在試樣弱點(dian)擊(ji)穿(chuan)后(hou)約0.1s內使(shi)電壓回升到原來設定的電壓。銅輥為下電極,導(dao)電橡膠為上電極。薄膜(mo)以2m-5m /min的速度移動(dong),薄膜(mo)弱點(dian)時(shi)擊(ji)穿(chuan),擊(ji)穿(chuan)點(dian)自動(dong)累積計數。膜(mo)移動(dong)以平方數自動(dong)計數。

優勢特點:

1、操(cao)作(zuo)簡單:放卷(juan)收(shou)卷(juan)固定(ding)后,點開始自動測(ce)試

2、動態顯(xian)示(shi):在薄膜擊(ji)穿后(hou),同步動態顯(xian)示(shi)曲線,直觀(guan)可視

3、安裝方便(bian):把模(mo)卷放入氣(qi)(qi)漲軸(zhou),通氣(qi)(qi)自動固定(ding)

4、張力可調:同能實(shi)時調節(jie)收卷、放卷的(de)張力

5、多種(zhong)模式:測試面積/測試長度/測試時間

6、擊穿點判(pan)定:實時記錄電(dian)弱(ruo)點與測試(shi)長度的(de)數據,可(ke)以統計查詢(xun)電(dian)弱(ruo)點之間的(de)長度

7、自(zi)動存儲:試驗(yan)介紹后自(zi)動彈窗提示存儲數據

8、智能自(zi)動:本(ben)機智能化、自(zi)動化程度(du)高,無需專業培訓,即可操作


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