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新款DRD系列薄膜電弱點試驗機
- 產品型號:GCDRD-5KV
- 更新時(shi)間:2024-08-15
- 產品(pin)介紹:新款DRD系列薄膜電弱點試驗機-本儀器方式為微機控制,卷膜移動速度可設定,按照設定的升壓速率升壓,達到設定的電壓后,實時記錄當前的電壓值和電流值,并能夠實時記錄當前的擊穿點,試驗結束后自動歸零,自動統計電弱點數、電弱線數,自動計算每平方米的電弱點數。本儀器自動化程度高,操作簡單、安裝卷膜方便、落地式結構方便操作。
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產品介紹
新款DRD系列薄膜電弱點試驗機
GCDRD-5KV
執行標(biao)準:GB_T 13542.2-2009 IEC 60674-2:1988-電氣絕緣用薄膜 第2部(bu)分試驗方(fang)法
產品用途:
新款DRD系列薄膜電弱點試驗機-該儀器(qi)主(zhu)要用(yong)于電(dian)氣用(yong)聚氨脂薄(bo)膜(mo)、塑料(liao)薄(bo)膜(mo)、聚丙稀薄(bo)膜(mo)等絕緣材料(liao)在給定直流電(dian)壓下自(zi)動升壓測定每平方(fang)米的(de)擊(ji)穿(chuan)點(dian)數(shu)。
本儀器方(fang)式(shi)為(wei)微機控(kong)制,卷膜移動速度可設(she)定(ding),按照設(she)定(ding)的(de)升(sheng)壓速率(lv)升(sheng)壓,達到(dao)設(she)定(ding)的(de)電(dian)壓后,實(shi)時記錄(lu)當(dang)前的(de)電(dian)壓值和電(dian)流值,并能(neng)夠(gou)實(shi)時記錄(lu)當(dang)前的(de)擊穿點(dian),試驗結束后自動歸零,自動統計電(dian)弱點(dian)數、電(dian)弱線數,自動計算每平(ping)方(fang)米(mi)的(de)電(dian)弱點(dian)數。
本儀器自動(dong)化(hua)程度高,操(cao)作(zuo)簡單、安裝卷膜方便(bian)、落(luo)地式結構(gou)方便(bian)操(cao)作(zuo)。
結構組成:
1、升(sheng)壓部件:由調壓器和高壓變壓器組成(cheng)0~5KV的升(sheng)壓部分。
2、動 部 件:通過調壓裝(zhuang)置勻速升(sheng)壓到(dao)設定(ding)的(de)電壓值。
3、檢(jian)測(ce)(ce)(ce)部件:由集成電路(lu)組成的測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)電路(lu),實時檢(jian)測(ce)(ce)(ce)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)數據傳給(gei)計算機。
4、計(ji)算(suan)(suan)機(ji)軟件:通過智能電路(lu)把由檢測設備采集的測控(kong)信(xin)號傳給計(ji)算(suan)(suan)機(ji)。計(ji)算(suan)(suan)機(ji)根(gen)據采集的信(xin)息控(kong)制設備運(yun)行(xing)并處理試驗結果(guo)。
5、收卷(juan)放卷(juan):固定卷(juan)膜(mo)并按照設定的速度旋轉運動
設備工作原理:
本測(ce)試儀試驗電(dian)(dian)壓(ya)是0-5KV直流(liu)電(dian)(dian)壓(ya),其波動(dong)為±1%。測(ce)試儀在試樣弱(ruo)點擊(ji)穿后約0.1s內使電(dian)(dian)壓(ya)回升到原來(lai)設定的電(dian)(dian)壓(ya)。銅輥為下電(dian)(dian)極(ji),導電(dian)(dian)橡膠為上(shang)電(dian)(dian)極(ji)。薄膜(mo)以2m-5m /min的速度移動(dong),薄膜(mo)弱(ruo)點時擊(ji)穿,擊(ji)穿點自(zi)動(dong)累積(ji)計數。膜(mo)移動(dong)以平方數自(zi)動(dong)計數。
優勢特點:
1、操作簡(jian)單(dan):放卷收(shou)卷固(gu)定后,點(dian)開(kai)始自動(dong)測試
2、動(dong)(dong)態顯示:在(zai)薄膜擊穿后,同步(bu)動(dong)(dong)態顯示曲線,直觀可視
3、安裝方便:把(ba)模卷放入氣漲(zhang)軸,通氣自(zi)動(dong)固(gu)定
4、張力可調:同能實時調節收卷(juan)、放卷(juan)的(de)張力
5、多種模式:測(ce)試(shi)(shi)面積/測(ce)試(shi)(shi)長度/測(ce)試(shi)(shi)時間
6、擊穿點判定(ding):實時記錄電(dian)弱點與(yu)測試長度(du)的(de)數據,可(ke)以(yi)統(tong)計查詢電(dian)弱點之間的(de)長度(du)
7、自(zi)動存(cun)儲:試驗介紹后自(zi)動彈窗提示存(cun)儲數據
8、智能(neng)自(zi)動:本機智能(neng)化、自(zi)動化程(cheng)度高,無需專業培訓,即可操作(zuo)
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