產品介紹

GCSTD-CII粉體粉末介質損耗測試儀及工頻介電常數儀

滿足標準：

GB/T1409-2006 測(ce)量電(dian)氣絕(jue)緣材料在工頻、音頻、高頻下電(dian)容率和介質損耗因數的推薦方法

GB/T 5654-2007 液(ye)體絕緣材料 相對電容率(lv)、介質損耗因數和直流電阻率(lv)的測量(liang)

GB/T 21216-2007 絕緣液體 測量電導和電容確定(ding)介質損耗因數的試(shi)驗方法

GB/T 1693-2007 硫化橡(xiang)膠 介電(dian)常數(shu)和介質損耗角正切值的測定方法

GB/T 5594.4-1985__電(dian)子元(yuan)器件結構陶瓷材料(liao)性能測試(shi)方(fang)法__介質損耗角正切值的測試(shi)方(fang)法

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一、產品概述

粉體粉末介質損耗測試儀及工頻介電常數儀，是一種*的測量(liang)介質損耗（tgδ）和電(dian)容(rong)容(rong)量(liang)（Cx）的儀器(qi)，測量(liang)各種絕緣(yuan)(yuan)材料(liao)、絕緣(yuan)(yuan)套管、絕緣(yuan)(yuan)液(ye)體、電(dian)力(li)電(dian)纜(lan)、電(dian)容(rong)器(qi)、互(hu)感器(qi)、變壓器(qi)等高(gao)(gao)壓設備(bei)的介質損耗（tgδ）和電(dian)容(rong)容(rong)量(liang)（Cx）。具有操作簡單、中文顯示(shi)、打印(yin)、使用方便、無需換算、自帶(dai)高(gao)(gao)壓，抗(kang)干擾(rao)能力(li)強， 測試時間短等優點。

本測(ce)試儀采用(yong)變頻(pin)電(dian)源技術(shu)，利用(yong)單片機和(he)電(dian)子技術(shu)進行(xing)自動(dong)頻(pin)率變換(huan)、模/數轉換(huan)和(he)數據運算(suan)，達到抗干擾能力強、測(ce)試速度(du)快、精(jing)度(du)高、操作簡便的功(gong)能。

二、性能特點

1、儀器(qi)測(ce)量(liang)準(zhun)確(que)度高，可滿(man)足油介損測(ce)量(liang)要求，因此只需配(pei)備(bei)標準(zhun)油杯，和專用測(ce)試線即可實現油介損測(ce)量(liang)。

2、采用變頻技術來消除現場50Hz工頻干擾，即使在強電磁干擾的(de)環境下也能測得可(ke)靠的(de)數(shu)據。

3、過流保護功(gong)能，在試品短(duan)路或擊穿時(shi)儀器不受損壞。

4、內附標準(zhun)電容和(he)高(gao)壓電源，便于現(xian)場測試，減少現(xian)場接線。

5、儀器(qi)采用(yong)大屏幕(mu)液晶顯示器(qi)，測試(shi)過(guo)程通過(guo)漢字(zi)菜單(dan)提示既直觀又便于操作。

三、技術指標

技術指標

1、試驗環(huan)境溫(wen)度：10℃～30℃（LCD液晶屏(ping)應避免長時間日(ri)照(zhao)）

2、相對濕度：20%～80%

3、供電電源：電壓：220V±10%

4、外形尺寸：長(chang)*寬(kuan)*高=470mm*320mm*360mm

5、重量：16kg

6、輸出功(gong)率：1.5KVA

7、顯示分辨率：3位、4位（內部(bu)全(quan)是6位）

8、測試(shi)方法(fa)(fa)：正接法(fa)(fa)、反接法(fa)(fa)、外接試(shi)驗電壓法(fa)(fa)

9、測量范圍：內接試驗電(dian)壓：

tgδ：99.9%

Cx ：30 pF＜Cx（10KV）＜60000 pF

10KV  Cx＜60000 pF

5KV   Cx＜80000 pF

2.5KV  Cx＜0.3uF

外接試驗電壓：

由外接試(shi)驗變壓器輸出功率而定

10、基本測量誤差(cha)：介質(zhi)損耗(hao)（tgδ）：1%±0.09%

電容容量(liang)（Cx）：1.5%±1pF

11、分辨率： tgδ：0.01%

Cx ：0.1pF

12、儀器為升(sheng)壓(ya)與測量一體化結構，輸出電壓(ya)2.5KV～10KV五檔可調

13、試樣要求：直(zhi)徑(jing)為50MM、100MM、38MM