產品介紹

GCSTD-CII粉體粉末固體顆粒工頻介電損耗測試儀

滿足標準：

GB/T1409-2006 測(ce)量(liang)電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介(jie)質(zhi)損耗因數的推薦方法

GB/T 5654-2007 液體(ti)絕緣(yuan)材料(liao) 相對電(dian)容率、介質損耗(hao)因(yin)數(shu)和直流電(dian)阻率的測量

GB/T 21216-2007 絕(jue)緣液體(ti) 測量電(dian)導和電(dian)容(rong)確定介質(zhi)損耗因數的試驗方法

GB/T 1693-2007 硫化(hua)橡膠 介電常數和介質損耗角正切(qie)值的測定方法

GB/T 5594.4-1985__電子元(yuan)器件結構陶瓷材料性能測(ce)試方法__介(jie)質損耗(hao)角正切值的測(ce)試方法

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一、產品概述

粉體粉末固體顆粒工頻介電損耗測試儀，是(shi)一種*的測(ce)(ce)量(liang)介質損耗（tgδ）和電容容量(liang)（Cx）的儀器(qi)，測(ce)(ce)量(liang)各種絕緣(yuan)材料(liao)、絕緣(yuan)套管、絕緣(yuan)液體(ti)、電力電纜、電容器(qi)、互(hu)感(gan)器(qi)、變壓(ya)器(qi)等(deng)高壓(ya)設備的介質損耗（tgδ）和電容容量(liang)（Cx）。具有操(cao)作簡(jian)單、中文顯示、打印、使用方便、無需換(huan)算(suan)、自帶高壓(ya)，抗干擾(rao)能力強， 測(ce)(ce)試時間短等(deng)優點。

本測試儀采用變頻(pin)電源技術(shu)(shu)，利用單片(pian)機和電子技術(shu)(shu)進(jin)行自動頻(pin)率變換(huan)、模/數(shu)(shu)轉換(huan)和數(shu)(shu)據運(yun)算(suan)，達到抗(kang)干擾(rao)能力(li)強(qiang)、測試速度(du)快、精度(du)高、操作簡(jian)便(bian)的功(gong)能。

二、性能特點

1、儀器測量準(zhun)確(que)度高，可滿(man)足(zu)油(you)(you)介損測量要求，因此(ci)只需配備標準(zhun)油(you)(you)杯，和專用測試(shi)線即可實現油(you)(you)介損測量。

2、采用(yong)變頻(pin)技術(shu)來消除現場(chang)50Hz工(gong)頻(pin)干擾，即使在強電磁干擾的(de)環境(jing)下也能測得(de)可靠的(de)數據。

3、過流保護功能，在試品短路(lu)或(huo)擊穿時儀器(qi)不受(shou)損(sun)壞。

4、內附(fu)標(biao)準(zhun)電容和(he)高壓電源，便于(yu)現(xian)場測試，減少現(xian)場接線(xian)。

5、儀(yi)器(qi)(qi)采用大屏幕液晶(jing)顯示(shi)器(qi)(qi)，測試過(guo)程通過(guo)漢字菜單提示(shi)既直(zhi)觀又便于(yu)操作。

三、技術指標

技術指標

1、試驗環(huan)境溫度(du)：10℃～30℃（LCD液晶屏應避免長時間日照(zhao)）

2、相對濕度：20%～80%

3、供電(dian)電(dian)源：電(dian)壓：220V±10%

4、外形尺寸：長*寬*高=470mm*320mm*360mm

5、重量：16kg

6、輸出(chu)功(gong)率：1.5KVA

7、顯示分(fen)辨率(lv)：3位(wei)、4位(wei)（內(nei)部全是6位(wei)）

8、測試方法(fa)：正接法(fa)、反接法(fa)、外接試驗電壓(ya)法(fa)

9、測(ce)量范圍：內(nei)接試驗(yan)電壓：

tgδ：99.9%

Cx ：30 pF＜Cx（10KV）＜60000 pF

10KV  Cx＜60000 pF

5KV   Cx＜80000 pF

2.5KV  Cx＜0.3uF

外接試驗電壓：

由外接試驗變壓器(qi)輸出功率而(er)定

10、基本測量誤(wu)差(cha)：介質損(sun)耗(hao)（tgδ）：1%±0.09%

電容容量（Cx）：1.5%±1pF

11、分辨(bian)率(lv)： tgδ：0.01%

Cx ：0.1pF

12、儀(yi)器為升壓與測(ce)量一體化結構，輸出電壓2.5KV～10KV五檔可調

13、試樣要求：直(zhi)徑為50MM、100MM、38MM