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電壓擊穿試驗儀,電阻率測試儀,介電常數測試儀,漏電起痕試驗儀,耐電弧試驗儀、介電溫譜測量系統、熱刺激電流測量系統
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產品詳細頁
工頻介電常數測試儀

工頻介電常數測試儀

  • 產品型號:GCSTD-CII
  • 更(geng)新時間:2024-07-15
  • 產品介紹:新款GCSTD系列工頻介電常數測試儀是一種*的測量介質損耗(tgδ)和電容容量(Cx)的儀器,測量各種絕緣材料、絕緣套管、絕緣液體、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗(tgδ)和電容容量(Cx)。具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓,抗干擾能力強, 測試時間短等優點。
  • 在線留言 010-57223836/57223838

產品介紹


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GCSTD-CII工頻介電常數測試儀

滿足標準:

GB/T1409-2006 測量電氣絕緣(yuan)材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質損耗因數的推薦方法

GB/T 5654-2007 液體絕緣材(cai)料(liao) 相對電(dian)(dian)容率、介(jie)質損耗因數和直流(liu)電(dian)(dian)阻率的測量

GB/T 21216-2007 絕緣液體 測(ce)量電導和電容確(que)定介質(zhi)損耗(hao)因數的試驗方法

GB/T 1693-2007 硫化橡(xiang)膠 介(jie)電(dian)常數(shu)和介(jie)質損(sun)耗角正切值的測定(ding)方法(fa)

GB/T 5594.4-1985__電子(zi)元器件結構陶瓷(ci)材料性能測(ce)試方法(fa)__介質損耗角正切值(zhi)的(de)測(ce)試方法(fa)

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一、產品概述

工頻介電常數測試儀,是一種(zhong)(zhong)*的(de)測(ce)量(liang)介質損(sun)(sun)耗(hao)(tgδ)和電容容量(liang)(Cx)的(de)儀器,測(ce)量(liang)各種(zhong)(zhong)絕緣材(cai)料(liao)、絕緣套管、絕緣液體、電力(li)電纜、電容器、互感(gan)器、變壓(ya)器等高壓(ya)設備的(de)介質損(sun)(sun)耗(hao)(tgδ)和電容容量(liang)(Cx)。具有操作簡單(dan)、中文顯(xian)示、打印、使用(yong)方便、無需換(huan)算、自(zi)帶高壓(ya),抗干擾能力(li)強, 測(ce)試時間短等優點。

本測試(shi)儀(yi)采用變(bian)(bian)頻電源技術(shu)(shu),利用單片機(ji)和電子技術(shu)(shu)進行(xing)自動頻率變(bian)(bian)換、模/數轉換和數據運算,達到抗干擾(rao)能(neng)力強、測試(shi)速度(du)快、精度(du)高、操作簡便的功能(neng)。

二、性能特點

1、儀(yi)器(qi)測(ce)量(liang)準(zhun)確度高,可(ke)滿足油介(jie)損(sun)測(ce)量(liang)要求,因此只需配備標準(zhun)油杯,和(he)專(zhuan)用測(ce)試線即可(ke)實現(xian)油介(jie)損(sun)測(ce)量(liang)。

2、采用(yong)變頻(pin)技術來消除(chu)現場50Hz工頻(pin)干擾(rao),即(ji)使在強電磁干擾(rao)的環(huan)境(jing)下也能測得可靠的數據。

3、過(guo)流保(bao)護功能(neng),在試品短(duan)路(lu)或擊穿(chuan)時(shi)儀器不(bu)受損壞。

4、內(nei)附標準電容(rong)和高壓電源,便于現(xian)場測試,減少現(xian)場接線(xian)。

5、儀器采用(yong)大屏幕液晶顯示(shi)器,測試過(guo)程通(tong)過(guo)漢字菜單提示(shi)既直觀又便于(yu)操作。

三、技術指標

技術指標

1、試驗環境溫度:10℃~30℃(LCD液(ye)晶屏應避免長時(shi)間日照)

2、相對濕度:20%~80%

3、供電電源:電壓:220V±10%

4、外(wai)形尺寸:長*寬(kuan)*高=470mm*320mm*360mm

5、重量:16kg

6、輸出功率:1.5KVA

7、顯(xian)示分(fen)辨率:3位(wei)、4位(wei)(內部(bu)全是6位(wei))

8、測試(shi)(shi)方法:正接(jie)法、反接(jie)法、外接(jie)試(shi)(shi)驗電壓法

9、測(ce)量范圍:內(nei)接試驗電壓:

tgδ:99.9%

Cx :30 pF<Cx(10KV)<60000 pF

10KV  Cx<60000 pF

5KV   Cx<80000 pF

2.5KV  Cx<0.3uF

外接試驗電壓:

由外接試驗(yan)變壓器輸出功率而(er)定

10、基本(ben)測量誤差:介質損耗(tgδ):1%±0.09%

電(dian)容容量(Cx):1.5%±1pF

11、分辨(bian)率(lv): tgδ:0.01%

Cx :0.1pF

12、儀器為(wei)升壓與測量(liang)一(yi)體化結構,輸(shu)出電壓2.5KV~10KV五檔可調

13、試樣要求:直徑為50MM、100MM、38MM







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