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產品詳細頁
新款GCSTD系列 低頻介電常數測試儀
- 產品型號(hao)：GCSTD-D
- 更新(xin)時(shi)間(jian)：2024-07-15
- 產品介紹(shao)：新款GCSTD系列 低頻介電常數測試儀滿足標準：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的推薦方法GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數和介質損耗角正切值的測定方法ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的（恒久電介質）的交流損耗特性和介電常數的測試方法
- 在線留言 010-57223836/57223838
產品介紹
V、1測(ce)試(shi)信號電(dian)平(ping)監視功能
圖形掃描分析(xi)功能
20組內(nei)部儀器(qi)設(she)定可供儲存(cun)／讀取(qu)
內建比較(jiao)器，10檔(dang)分選及計數功能(neng)
多種通(tong)訊(xun)接(jie)口方便用戶聯機(ji)使用
2m／4m測試電纜擴展（選件）
中(zhong)英文可選操作界面
可通過USB HOST 自動升級儀器工作程序(xu)
測試(shi)材料：
無源(yuan)元件(jian)：電容器(qi)、電感器(qi)、磁芯、電阻器(qi)、壓(ya)電器(qi)件(jian)、變壓(ya)器(qi)、芯片組件(jian)和網(wang)絡元件(jian)
等的(de)陽抗參數評估和性(xing)能(neng)分析。
半導體元件：變(bian)容二(er)極管的(de)C-VDC特性(xing)；晶體管或集成電路的(de)寄生參數分析(xi)
品質：對產(chan)品的(de)精益追求+嚴格規范的(de)測試
價格：科學的管理成本(ben)+高效(xiao)率(lv)合作降(jiang)低成本(ben)
新款GCSTD系列 低頻介電常數測試儀
客戶：大(da)中院校+科研機構+質檢部門(men)+實(shi)驗室等
價值：為客戶提供好(hao)的產品+好(hao)的服(fu)務
理念：天的(de)質(zhi)量就是明天的(de)市場
公司所供(gong)產品均按照標準化研(yan)發 、嚴格(ge)測試并檢驗合格(ge)后(hou)才(cai)出廠的，質量和服(fu)務優(you)質，質優(you)價廉。
公司真誠歡迎全國朋友來電來函洽談業務！！并預祝合作愉(yu)快(kuai)！！可根據(ju)客戶(hu)的(de)不(bu)同(tong)需求開發標準、非(fei)標準設備(bei)
源于精測 精品搖籃 之選 自強不息 厚德載物(wu) 厚積薄發(fa) 高速(su)增(zeng)長
新款GCSTD系列 低頻介電常數測試儀
顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S
D 0.0001 ～ 9.9999
Q 0.0001 ～ 99999
θ -179.99°～ 179.99°
測量速度 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）
中速(su): 25次(ci)/s, 慢速(su): 5次(ci)/s
校準功能 開路 / 短路點頻、掃頻清零，負載校準
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